Nature.comን ስለጎበኙ እናመሰግናለን።እየተጠቀሙበት ያለው የአሳሽ ስሪት የተወሰነ የሲኤስኤስ ድጋፍ አለው።ለበለጠ ልምድ፣ የዘመነ አሳሽ እንድትጠቀም እንመክርሃለን (ወይም የተኳኋኝነት ሁነታን በኢንተርኔት ኤክስፕሎረር አሰናክል)።እስከዚያው ድረስ ቀጣይ ድጋፍን ለማረጋገጥ ጣቢያውን ያለ ቅጦች እና ጃቫስክሪፕት እናቀርባለን።
ማይክሮቢያል ዝገት (MIC) በብዙ ኢንዱስትሪዎች ውስጥ ከፍተኛ ችግር ነው, ምክንያቱም ከፍተኛ የኢኮኖሚ ኪሳራ ሊያስከትል ይችላል.ሱፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት 2707 (2707 ኤችዲኤስኤስ) በጥሩ ኬሚካላዊ የመቋቋም ችሎታ ምክንያት በባህር አካባቢዎች ውስጥ ጥቅም ላይ ይውላል።ሆኖም፣ ለኤምአይሲ ያለው ተቃውሞ በሙከራ አልታየም።ይህ ጥናት በባህር ኤሮቢክ ባክቴሪያ Pseudomonas aeruginosa የተከሰተውን MIC 2707 HDSS ባህሪን መርምሯል.የኤሌክትሮኬሚካላዊ ትንታኔ እንደሚያሳየው በ 2216E መካከለኛ ውስጥ Pseudomonas aeruginosa biofilm በሚኖርበት ጊዜ የዝገት አቅም ላይ አዎንታዊ ለውጥ እና የዝገት የአሁኑ እፍጋት መጨመር ይከሰታል.የኤክስሬይ የፎቶ ኤሌክትሮን ስፔክትሮስኮፒ (XPS) ትንተና በባዮፊልሙ ስር ባለው ናሙና ወለል ላይ ያለው የ Cr ይዘት መቀነስ አሳይቷል።የጉድጓዶቹ ምስላዊ ትንታኔ እንደሚያሳየው የፒ.ኤሩጂኖሳ ባዮፊልም በ14 ቀናት የመታቀፉ ወቅት ከፍተኛው የጉድጓድ ጥልቀት 0.69 µm አምርቷል።ምንም እንኳን ይህ ትንሽ ቢሆንም, 2707 HDSS ከ P. aeruginosa biofilms MIC ሙሉ በሙሉ እንደማይከላከል ያመለክታል.
ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረቶች (DSS) በተለያዩ ኢንዱስትሪዎች ውስጥ በሰፊው ጥቅም ላይ የሚውሉት እጅግ በጣም ጥሩ የሜካኒካል ባህሪያት እና የዝገት መከላከያ1,2 በመሆኑ ነው።ነገር ግን፣ የተተረጎመ ጉድጓዶች አሁንም ይከሰታሉ እና የዚህን ብረት3፣4 ትክክለኛነት ይነካል።DSS የማይክሮባይል ዝገት (MIC) 5,6 መቋቋም አይችልም.ለ DSS ሰፊ አፕሊኬሽኖች ቢኖሩም፣ የዲኤስኤስ ዝገት መቋቋም ለረጅም ጊዜ አገልግሎት የማይሰጥባቸው አካባቢዎች አሁንም አሉ።ይህ ማለት ከፍተኛ የዝገት መከላከያ ያላቸው በጣም ውድ የሆኑ ቁሳቁሶች ያስፈልጋሉ.Jeon et al7 ሱፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ አረብ ብረቶች (ኤስዲኤስኤስ) እንኳን ከዝገት መቋቋም አንፃር የተወሰነ ገደብ እንዳላቸው ተገንዝበዋል።ስለዚህ, በአንዳንድ ሁኔታዎች, ከፍተኛ የዝገት መከላከያ ያላቸው ሱፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ አረብ ብረቶች (HDSS) ያስፈልጋሉ.ይህም ከፍተኛ ቅይጥ ኤችዲኤስኤስ እንዲዳብር አድርጓል።
የዝገት መቋቋም DSS በአልፋ እና ጋማ ደረጃዎች ጥምርታ ላይ የሚመረኮዝ ሲሆን ከሁለተኛው ምዕራፍ አጠገብ በ Cr, Mo እና W ክልሎች 8, 9, 10 ተሟጧል.ኤችዲኤስኤስ ከፍተኛ የ Cr, Mo እና N11 ይዘት ይዟል, ስለዚህ እጅግ በጣም ጥሩ የዝገት መቋቋም እና ከፍተኛ እሴት (45-50) ተመጣጣኝ የሆነ የፒቲንግ መከላከያ ቁጥር (PREN) በwt.% Cr + 3.3 (wt.% Mo + 0.5 wt. .% W) + 16% wt.N12.እጅግ በጣም ጥሩ የዝገት መቋቋም በግምት 50% ferritic (α) እና 50% austenitic (γ) ደረጃዎችን በያዘ ሚዛናዊ ቅንብር ላይ የተመሰረተ ነው።ኤችዲኤስኤስ የተሻሉ የሜካኒካል ባህሪያት እና ለክሎራይድ ዝገት ከፍተኛ የመቋቋም ችሎታ አለው.የተሻሻለ የዝገት መቋቋም የኤችዲኤስኤስ አጠቃቀምን ይበልጥ ኃይለኛ በሆኑ የክሎራይድ አካባቢዎች እንደ የባህር አካባቢዎች ያራዝመዋል።
MICs እንደ ዘይት እና ጋዝ እና የውሃ ኢንዱስትሪዎች ባሉ በብዙ ኢንዱስትሪዎች ውስጥ ዋነኛ ችግር ነው14.MIC ከሁሉም የዝገት ጉዳቶች 20 በመቶውን ይይዛል15.MIC በብዙ አካባቢዎች ሊታይ የሚችል ባዮኤሌክትሮኬሚካል ዝገት ነው።በብረታ ብረት ላይ የሚሠሩ ባዮፊልሞች ኤሌክትሮኬሚካላዊ ሁኔታዎችን ይለውጣሉ, በዚህም የዝገት ሂደትን ይጎዳሉ.ኤምአይሲ ዝገት የሚከሰተው በባዮፊልሞች እንደሆነ በሰፊው ይታመናል።ኤሌክትሮጂካዊ ረቂቅ ተሕዋስያን በሕይወት ለመኖር የሚያስፈልጋቸውን ኃይል ለማግኘት ብረቶችን ይበላሉ17.የቅርብ ጊዜ የMIC ጥናቶች እንደሚያሳዩት EET (extracellular electron transfer) በኤሌክትሮጂኒክ ረቂቅ ተሕዋስያን የሚመነጨው የ MIC ፍጥነትን የሚገድብ ነው።ዣንግ እና ሌሎች.18 የሚያሳየው የኤሌክትሮን አማላጆች የኤሌክትሮኖች ዝውውርን በDesulfovibrio sessificans ሕዋሳት እና 304 አይዝጌ ብረት መካከል ያለውን ዝውውር ያፋጥናሉ፣ይህም የከፋ የMIC ጥቃት ያስከትላል።አኒንግ እና ሌሎች.19 እና ዌንዝላፍ እና ሌሎች.20 እንደሚያሳዩት ባዮፊልሞች የሚበላሹ ሰልፌት የሚቀንሱ ባክቴሪያዎች (ኤስአርቢዎች) ኤሌክትሮኖችን በቀጥታ ከብረት ንጣፎች በመምጠጥ ከባድ ጉድጓዶችን ያስከትላል።
DSS ኤስአርቢ፣ ብረትን የሚቀነሱ ባክቴሪያ (IRBs)፣ ወዘተ 21 ባሉ ሚዲያዎች ውስጥ ለኤምአይሲ የተጋለጠ መሆኑ ይታወቃል።እነዚህ ባክቴሪያዎች በባዮፊልምስ22,23 ስር የተተረጎመ ጉድጓዶችን በDSS ገጽ ላይ ያስከትላሉ።ከ DSS በተለየ፣ HDSS24 MIC በደንብ አይታወቅም።
Pseudomonas aeruginosa በተፈጥሮ ውስጥ በስፋት የሚሰራጩ ግራም-አሉታዊ፣ ተንቀሳቃሽ፣ በዱላ ቅርጽ ያለው ባክቴሪያ ነው።Pseudomonas aeruginosa በተጨማሪም በባህር አካባቢ ውስጥ ከፍተኛ የሆነ የ MIC ስብስቦችን በመፍጠር ዋና ዋና የማይክሮባላዊ ቡድን ነው.Pseudomonas በዝገት ሂደት ውስጥ በንቃት ይሳተፋል እና ባዮፊልም በሚፈጠርበት ጊዜ እንደ አቅኚ ቅኝ ገዥ ይታወቃል።ማሃት እና ሌሎች.28 እና Yuan et al.29 አሳይቷል Pseudomonas aeruginosa በውሃ ውስጥ ባሉ አካባቢዎች ውስጥ ለስላሳ ብረት እና ውህዶች የዝገት መጠን የመጨመር አዝማሚያ አለው።
የዚህ ሥራ ዋና ዓላማ የኤሌክትሮኬሚካላዊ ዘዴዎችን, የገጽታ ትንተና ዘዴዎችን እና የዝገት ምርትን ትንተና በመጠቀም በባህር ኤሮቢክ ባክቴሪያ Pseudomonas aeruginosa የተከሰተውን MIC 2707 HDSS ባህሪያትን መመርመር ነበር.የ MIC 2707 HDSS ባህሪን ለማጥናት የኤሌክትሮኬሚካላዊ ጥናቶች፣ ክፍት ዑደት አቅም (OCP)፣ ሊኒያር ፖላራይዜሽን መቋቋም (LPR)፣ ኤሌክትሮኬሚካል ኢምፔዳንስ ስፔክትሮስኮፒ (EIS) እና እምቅ ተለዋዋጭ ፖላራይዜሽን ተካሂደዋል።የኢነርጂ ስርጭት ስፔክትሮሜትሪክ ትንተና (EDS) በቆሸሸ መሬት ላይ የኬሚካል ንጥረ ነገሮችን ለመለየት ተካሂዷል.በተጨማሪም ኤክስ ሬይ የፎቶ ኤሌክትሮን ስፔክትሮስኮፒ (XPS) የኦክሳይድ ፊልም ማለፊያ መረጋጋትን ለመወሰን ጥቅም ላይ የዋለው Pseudomonas aeruginosa በያዘው የባህር አካባቢ ተጽእኖ ስር ነው.የጉድጓዶቹ ጥልቀት የሚለካው በኮንፎካል ሌዘር ስካኒንግ ማይክሮስኮፕ (CLSM) ስር ነው።
ሠንጠረዥ 1 የ 2707 HDSS ኬሚካላዊ ቅንጅቶችን ያሳያል.ሠንጠረዥ 2 እንደሚያሳየው 2707 ኤችዲኤስኤስ በ 650 MPa የምርት ጥንካሬ እጅግ በጣም ጥሩ የሜካኒካል ባህሪያት አሉት.በለስ ላይ.1 የ 2707 ኤችዲኤስኤስ መታከም የመፍትሄው ሙቀት የኦፕቲካል ማይክሮስትራክቸር ያሳያል.50% Austenite እና 50% ferrite ደረጃዎችን በያዘው ማይክሮስትራክቸር ውስጥ የሁለተኛ ደረጃዎች የሌሉባቸው የተራዘመ የኦስቲኔት እና የፌሪቲ ደረጃዎች ባንዶች ይታያሉ።
በለስ ላይ.2a ክፍት የወረዳ አቅም (Eocp) እና ተጋላጭነት ጊዜን ለ 2707 HDSS በ 2216E abiotic media እና P. aeruginosa broth ለ 14 ቀናት በ 37 ° ሴ ያሳያል።በ Eocp ውስጥ ትልቁ እና ከፍተኛው ለውጥ በመጀመሪያዎቹ 24 ሰዓታት ውስጥ እንደሚከሰት ያሳያል።የ Eocp ዋጋዎች በሁለቱም ሁኔታዎች በ -145 mV (ከ SCE ጋር ሲነጻጸር) በ 16 ሰአታት አካባቢ እና ከዚያም በከፍተኛ ሁኔታ ወድቀው -477 mV (ከ SCE ጋር ሲነጻጸር) እና -236 mV (ከ SCE ጋር ሲነጻጸር) ለአቢዮቲክ ናሙና ደረሱ።እና Pseudomonas aeruginosa ኩፖኖች በቅደም ተከተል).ከ 24 ሰአታት በኋላ የ Eocp 2707 HDSS ዋጋ ለ P. aeruginosa በአንጻራዊ ሁኔታ የተረጋጋ -228 mV (ከ SCE ጋር ሲነጻጸር) ባዮሎጂያዊ ያልሆኑ ናሙናዎች ተመጣጣኝ ዋጋ በግምት -442 mV (ከ SCE ጋር ሲነጻጸር).በ P. aeruginosa ፊት Eocp በጣም ዝቅተኛ ነበር.
ኤሌክትሮኬሚካላዊ ጥናት 2707 HDSS ናሙናዎች በአቢዮቲክ መካከለኛ እና Pseudomonas aeruginosa broth በ 37 ° ሴ.
(ሀ) Eocp እንደ የተጋላጭነት ጊዜ፣ (ለ) የፖላራይዜሽን ኩርባዎች በቀን 14፣ (ሐ) Rp እንደ የተጋላጭነት ጊዜ ተግባር፣ እና (መ) ኢኮርር እንደ የተጋላጭነት ጊዜ ተግባር።
ሠንጠረዥ 3 በ 14 ቀናት ጊዜ ውስጥ ለ 2707 HDSS ናሙናዎች ለአቢዮቲክ እና ለፒሴዶሞናስ ኤሩጊኖሳ የተከተቡ ሚዲያዎች የተጋለጡትን ኤሌክትሮኬሚካላዊ የዝገት መለኪያዎችን ያሳያል ።በመደበኛ ዘዴዎች30,31 መሠረት ዝገት የአሁኑ ጥግግት (icorr), ዝገት እምቅ (Ecorr) እና Tafel ተዳፋት (βα እና βc) የሚሰጡ መገናኛዎች ለማግኘት anode እና ካቶድ ጥምዝ ታንጀንት extrapolated ነበር.
በለስ ላይ እንደሚታየው.2b, በ P. aeruginosa ጥምዝ ወደ ላይ የሚደረግ ለውጥ ከአቢዮቲክ ኩርባ ጋር ሲነፃፀር የኢኮርን መጨመር አስከትሏል.ከዝገት መጠን ጋር ተመጣጣኝ የሆነው የ icorr እሴት ወደ 0.328 µA ሴ.ሜ-2 በፒሴዶሞናስ ኤሩጊኖሳ ናሙና ውስጥ ጨምሯል፣ ይህም ከባዮሎጂካል ካልሆኑ ናሙና (0.087 µA ሴሜ-2) በአራት እጥፍ ይበልጣል።
LPR ለፈጣን የዝገት ትንተና የሚታወቅ አጥፊ ያልሆነ ኤሌክትሮኬሚካል ዘዴ ነው።በተጨማሪም MIC32 ን ለማጥናት ጥቅም ላይ ውሏል.በለስ ላይ.2c የፖላራይዜሽን መከላከያ (Rp) እንደ የተጋላጭነት ጊዜ ያሳያል.ከፍ ያለ የ Rp እሴት ዝቅተኛ ዝገት ማለት ነው.በመጀመሪያዎቹ 24 ሰዓታት ውስጥ Rp 2707 HDSS በ 1955 kΩ ሴሜ 2 ለአቢዮቲክ ናሙናዎች እና 1429 kΩ ሴሜ 2 ለ Pseudomonas aeruginosa ናሙናዎች ከፍ ብሏል።ምስል 2c በተጨማሪም የ Rp ዋጋ ከአንድ ቀን በኋላ በፍጥነት መቀነሱን እና ከዚያ በሚቀጥሉት 13 ቀናት ውስጥ በአንፃራዊነት ሳይለወጥ እንደቆየ ያሳያል።የ Pseudomonas aeruginosa ናሙና Rp ዋጋ ወደ 40 kΩ ሴሜ 2 ነው, ይህም ከ 450 kΩ ሴሜ 2 ባዮሎጂካል ያልሆነ ናሙና ዋጋ በጣም ያነሰ ነው.
የኢኮርር ዋጋ ከተመሳሳይ የዝገት መጠን ጋር ተመጣጣኝ ነው።ዋጋው ከሚከተለው የስተርን-ጊሪ እኩልታ ሊሰላ ይችላል፡
እንደ ዞኢ እና ሌሎች.33, በዚህ ሥራ ውስጥ ያለው የTafel slope B ዓይነተኛ እሴት 26 mV/Dec ተወስዷል።ምስል 2d እንደሚያሳየው የባዮሎጂካል ያልሆነ ናሙና 2707 ምስል በአንጻራዊ ሁኔታ የተረጋጋ ሲሆን የ P. aeruginosa ናሙና ከመጀመሪያዎቹ 24 ሰዓታት በኋላ በከፍተኛ ሁኔታ ይለዋወጣል.የ P. aeruginosa ናሙናዎች icorr እሴቶች ባዮሎጂያዊ ካልሆኑት ቁጥጥር የበለጠ ትልቅ ቅደም ተከተል ነበሩ።ይህ አዝማሚያ ከፖላራይዜሽን የመቋቋም ውጤቶች ጋር ይጣጣማል.
EIS በቆሸሹ ቦታዎች ላይ የኤሌክትሮኬሚካላዊ ምላሾችን ለመለየት የሚያገለግል ሌላው አጥፊ ያልሆነ ዘዴ ነው።ለኤቢዮቲክ አካባቢ እና ለ Pseudomonas aeruginosa መፍትሄ የተጋለጡ የናሙናዎች የኢምፔዳንስ ስፔክትራ እና የተሰላ አቅም እሴቶች ፣ በፓሲቭ ፊልም / ባዮፊልም የመቋቋም Rb በናሙና ወለል ላይ ተፈጠረ ፣ የኃይል ማስተላለፊያ መቋቋም Rct ፣ የኤሌክትሪክ ድርብ ንብርብር አቅም Cdl (EDL) እና ቋሚ የ QCPE ደረጃ ኤለመንት መለኪያዎች (ሲፒኢ)።እነዚህ መመዘኛዎች በተመጣጣኝ የወረዳ (EEC) ሞዴል በመጠቀም መረጃውን በመገጣጠም የበለጠ ተንትነዋል።
በለስ ላይ.3 ለ 2707 HDSS ናሙናዎች በአቢዮቲክ ሚዲያ እና P. aeruginosa broth ለተለያዩ የመታቀፊያ ጊዜዎች የተለመዱ የኒኩዊስት ቦታዎችን (ሀ እና ለ) እና የቦድ ሴራዎችን (a' እና b') ያሳያል።Pseudomonas aeruginosa በሚኖርበት ጊዜ የኒኩዊስት ቀለበት ዲያሜትር ይቀንሳል.የቦዲው ሴራ (ምስል 3 ለ') የጠቅላላ መጨናነቅ መጨመርን ያሳያል.ስለ ዘና ጊዜ ቋሚ መረጃ ከክፍል ከፍተኛው ሊገኝ ይችላል.በለስ ላይ.4 በ monolayer (a) እና bilayer (b) እና በተዛማጅ ኢኢሲዎች ላይ የተመሰረቱ አካላዊ አወቃቀሮችን ያሳያል።CPE በ EEC ሞዴል ውስጥ ገብቷል።የመግቢያው እና የመከልከል ሁኔታው ​​እንደሚከተለው ተገልጿል.
የናሙና 2707 HDSS impedance spectrum ለመገጣጠም ሁለት አካላዊ ሞዴሎች እና ተጓዳኝ አቻ ወረዳዎች፡
Y0 የ KPI እሴት ከሆነ, j ምናባዊ ቁጥር ወይም (-1) 1/2, ω የማዕዘን ድግግሞሽ ነው, n የ KPI የኃይል መረጃ ጠቋሚ ከአንድ 35 ያነሰ ነው.የኃይል ማስተላለፊያ ተከላካይ ተገላቢጦሽ (ማለትም 1/Rct) ከዝገት መጠን ጋር ይዛመዳል።ትንሹ Rct ፣ የዝገቱ መጠን ከፍ ያለ ነው27።ከ 14 ቀናት በኋላ የመታቀፉን የ Rct of Pseudomonas aeruginosa ናሙናዎች 32 kΩ cm2 ደርሰዋል, ይህም ከ 489 kΩ ሴሜ 2 ባዮሎጂካል ያልሆኑ ናሙናዎች (ሠንጠረዥ 4) በጣም ያነሰ ነው.
በስእል 5 ላይ ያሉት የCLSM ምስሎች እና SEM ምስሎች በኤችዲኤስኤስ ናሙና 2707 ላይ ያለው የባዮፊልም ሽፋን ከ7 ቀናት በኋላ ጥቅጥቅ ያለ መሆኑን በግልፅ ያሳያሉ።ሆኖም ከ14 ቀናት በኋላ የባዮፊልም ሽፋን ደካማ ነበር እና አንዳንድ የሞቱ ሴሎች ታዩ።ሠንጠረዥ 5 ለ 7 እና ለ 14 ቀናት ለ P. aeruginosa ከተጋለጡ በኋላ በ 2707 HDSS ናሙናዎች ላይ የባዮፊልም ውፍረት ያሳያል.ከፍተኛው የባዮፊልም ውፍረት ከ7 ቀናት በኋላ ከ23.4µm ወደ 18.9µm ከ14 ቀናት በኋላ ተቀይሯል።አማካይ የባዮፊልም ውፍረትም ይህንን አዝማሚያ አረጋግጧል.ከ 7 ቀናት በኋላ ከ 22.2 ± 0.7 μm ወደ 17.8 ± 1.0 μm ከ 14 ቀናት በኋላ ቀንሷል.
(ሀ) የ3-ዲ CLSM ምስል በ7 ቀናት፣ (ለ) የ3-ዲ CLSM ምስል በ14 ቀናት፣ (ሐ) የ SEM ምስል በ7 ቀናት፣ እና (መ) የSEM ምስል በ14 ቀናት።
EMF ለ 14 ቀናት ለ P. aeruginosa በተጋለጡ ናሙናዎች ላይ ባዮፊልሞች እና የዝገት ምርቶች ውስጥ የኬሚካል ንጥረ ነገሮችን አሳይቷል።በለስ ላይ.ምስል 6 እንደሚያሳየው የ C, N, O እና P ይዘት በባዮፊልሞች እና የዝገት ምርቶች ውስጥ ያለው ይዘት ከንጹህ ብረቶች የበለጠ ከፍ ያለ ነው, ምክንያቱም እነዚህ ንጥረ ነገሮች ከባዮፊልሞች እና ከሜታቦሊቶች ጋር የተቆራኙ ናቸው.ማይክሮቦች የሚያስፈልጋቸው ክሮምሚየም እና ብረት ብቻ ነው.በባዮፊልም እና በናሙናዎቹ ወለል ላይ ያሉ የዝገት ምርቶች ከፍተኛ መጠን ያለው Cr እና Fe የሚያመለክቱት የብረት ማትሪክስ በቆርቆሮ ምክንያት ንጥረ ነገሮችን እንደጠፋ ነው።
ከ 14 ቀናት በኋላ, ከ P. aeruginosa ጋር እና የሌላቸው ጉድጓዶች በመካከለኛው 2216E.ከመታቀፉ በፊት, የናሙናዎቹ ገጽታ ለስላሳ እና እንከን የለሽ ነበር (ምስል 7 ሀ).የባዮፊልም እና የዝገት ምርቶችን ከታቀፉ እና ካስወገዱ በኋላ በናሙናዎቹ ወለል ላይ ያሉ ጥልቅ ጉድጓዶች በምስል 7b እና c ላይ እንደሚታየው CLSM በመጠቀም ተመርምረዋል።ባዮሎጂካል ባልሆኑ ቁጥጥሮች ላይ ምንም ግልጽ የሆነ ጉድጓድ አልተገኘም (ከፍተኛው የጉድጓድ ጥልቀት 0.02 µm)።በP. aeruginosa የተከሰተው ከፍተኛው የጉድጓድ ጥልቀት በ 7 ቀናት 0.52 µm እና 0.69 µm በ14 ቀናት ነበር፣ ይህም በአማካይ ከፍተኛው የጉድጓድ ጥልቀት ከ3 ናሙናዎች (ለእያንዳንዱ ናሙና 10 ከፍተኛ የጉድጓድ ጥልቀቶች ተመርጠዋል)።የ 0.42 ± 0.12 µm እና 0.52 ± 0.15 μm ስኬት (ሠንጠረዥ 5)።እነዚህ ጉድጓድ ጥልቅ እሴቶች ትንሽ ናቸው ነገር ግን አስፈላጊ ናቸው.
(ሀ) ከመጋለጡ በፊት፣ (ለ) በአቢዮቲክ አካባቢ 14 ቀናት፣ እና (ሐ) 14 ቀናት በፕሴዶሞናስ ኤሩጊኖሳ ሾርባ ውስጥ።
በለስ ላይ.ሠንጠረዥ 8 የ XPS የተለያዩ የናሙና ንጣፎችን ያሳያል ፣ እና ለእያንዳንዱ ወለል የተተነተነው ኬሚካላዊ ቅንጅት በሰንጠረዥ 6 ተጠቃሏል ። በሰንጠረዥ 6 ፣ የ Fe እና Cr አቶሚክ መቶኛ P. aeruginosa (ናሙናዎች A እና B) ከባዮሎጂያዊ ካልሆኑ ቁጥጥር በጣም ያነሰ ነበር።(ናሙናዎች C እና D)።ለ P. aeruginosa ናሙና, በ Cr 2p ኒውክሊየስ ደረጃ ላይ ያለው ስፔክትራል ኩርባ ከ 574.4, 576.6, 578.3 እና 586.8 eV ጋር በአራት ከፍተኛ ክፍሎች የተገጠመ ሲሆን ይህም ለ Cr, Cr2O3, CrO3, CrO3, CrO3, CrO3, CrO3, 578.3 እና 586.8 eV.እና Cr (OH) 3, በቅደም ተከተል (ምስል 9 ሀ እና ለ).ባዮሎጂካል ላልሆኑ ናሙናዎች፣ የዋናው Cr 2p ደረጃ ስፔክትረም ለ Cr (573.80 eV for BE) እና Cr2O3 (575.90 eV for BE) ሁለት ዋና ዋና ጫፎችን በFig.9 ሐ እና መ፣ በቅደም ተከተል።በአቢዮቲክ ናሙናዎች እና በ P. aeruginosa ናሙናዎች መካከል ያለው በጣም አስገራሚ ልዩነት በባዮፊልሙ ስር Cr6+ እና ከፍ ያለ አንጻራዊ Cr (OH) 3 (BE 586.8 eV) መገኘት ነው።
በሁለት ሚዲያዎች ውስጥ ያለው የናሙና 2707 HDSS ሰፊው የ XPS ስፔክት 7 እና 14 ቀናት ናቸው።
(ሀ) ለ 7 ቀናት ለ P. aeruginosa ተጋላጭነት፣ (ለ) ለ 14 ቀናት ለፒ.
HDSS በአብዛኛዎቹ አካባቢዎች ከፍተኛ የዝገት መቋቋምን ያሳያል።ኪም et al.2 እንደዘገበው HDSS UNS S32707 በከፍተኛ ቅይጥ DSS ከ PREN በላይ ከ 45. የ PREN የናሙና 2707 HDSS ዋጋ 49. ይህ የሆነው በከፍተኛ የክሮሚየም ይዘት እና በሞሊብዲነም እና በኒኬል ከፍተኛ ይዘት ያለው ሲሆን ይህም በአሲድ አከባቢዎች ውስጥ ጠቃሚ ነው.እና ከፍተኛ የክሎራይድ ይዘት ያላቸው አካባቢዎች.በተጨማሪም, የተመጣጠነ ስብጥር እና ጉድለት የሌለበት ማይክሮስትራክሽን ለመዋቅራዊ መረጋጋት እና ለዝገት መቋቋም ጠቃሚ ነው.ነገር ግን እጅግ በጣም ጥሩ ኬሚካላዊ ተቃውሞ ቢኖረውም, በዚህ ስራ ውስጥ ያለው የሙከራ መረጃ 2707 HDSS ከ P. aeruginosa biofilm MICs ሙሉ በሙሉ አይከላከልም.
የኤሌክትሮኬሚካላዊ ውጤቶች እንደሚያሳዩት የ 2707 HDSS በ P. aeruginosa broth ውስጥ ያለው የዝገት መጠን ከ 14 ቀናት በኋላ ባዮሎጂያዊ ካልሆነው አካባቢ ጋር ሲነጻጸር በከፍተኛ ሁኔታ ጨምሯል.በስእል 2a በመጀመሪያዎቹ 24 ሰአታት ውስጥ የ Eocp ቅነሳ በሁለቱም በአቢዮቲክ መካከለኛ እና በ P. aeruginosa broth ውስጥ ታይቷል.ከዚያ በኋላ ባዮፊልሙ የናሙናውን ገጽታ ሙሉ በሙሉ ይሸፍናል, እና Eocp በአንጻራዊነት የተረጋጋ ይሆናል36.ሆኖም፣ የባዮሎጂካል ኢኮፕ ደረጃ ባዮሎጂካል ካልሆነው የኢኮፕ ደረጃ በጣም ከፍ ያለ ነበር።ይህ ልዩነት ከ P. aeruginosa ባዮፊልሞች መፈጠር ጋር የተያያዘ ነው ብሎ ለማመን ምክንያቶች አሉ.በለስ ላይ.2d በ P. aeruginosa ፊት, icorr 2707 HDSS ዋጋ 0.627 μA ሴሜ-2 ደርሷል, ይህም በ EIS ከሚለካው የ Rct እሴት ጋር የሚጣጣም ከአቢዮቲክ ቁጥጥር (0.063 μA ሴ.ሜ-2) የበለጠ መጠን ያለው ቅደም ተከተል ነው.በመጀመሪያዎቹ ጥቂት ቀናት ውስጥ በ P. aeruginosa broth ውስጥ ያለው የንፅፅር ዋጋዎች በፒ.ነገር ግን, ባዮፊልሙ የናሙናውን ገጽ ሙሉ በሙሉ ሲሸፍነው, መከላከያው ይቀንሳል.መከላከያው ንብርብር በዋነኝነት የሚያጠቃው ባዮፊልሞች እና ባዮፊልም ሜታቦላይትስ በመፍጠር ነው።በዚህ ምክንያት የዝገት መከላከያው ከጊዜ ወደ ጊዜ እየቀነሰ እና የፒ.በአቢዮቲክ አካባቢዎች ውስጥ ያሉ አዝማሚያዎች የተለያዩ ነበሩ።የባዮሎጂካል ያልሆነ መቆጣጠሪያው የዝገት መቋቋም ለ P. aeruginosa broth ከተጋለጡ ናሙናዎች ዋጋ በጣም ከፍ ያለ ነበር.በተጨማሪም, ለ abiotic accessions, የ Rct 2707 HDSS ዋጋ በቀን 14 489 kΩ cm2 ደርሷል, ይህም ከ Rct እሴት (32 kΩ cm2) በ P. aeruginosa ፊት በ 15 እጥፍ ይበልጣል.ስለዚህ, 2707 HDSS በጸዳ አካባቢ ውስጥ በጣም ጥሩ የዝገት መከላከያ አለው, ነገር ግን ከ P. aeruginosa biofilms ኤምአይሲዎች መቋቋም አይችልም.
እነዚህ ውጤቶች በስእል ውስጥ ካሉት የፖላራይዜሽን ኩርባዎች ሊታዩ ይችላሉ.2 ለ.አኖዲክ ቅርንጫፍ ከ Pseudomonas aeruginosa ባዮፊልም መፈጠር እና ከብረት ኦክሳይድ ምላሽ ጋር ተቆራኝቷል።በዚህ ሁኔታ የካቶዲክ ምላሽ የኦክስጅን ቅነሳ ነው.የ P. aeruginosa መገኘት የዝገት የአሁኑን ጥንካሬ በከፍተኛ ሁኔታ ጨምሯል, ከአቢዮቲክ ቁጥጥር የበለጠ ከፍተኛ መጠን ያለው ቅደም ተከተል.ይህ የሚያሳየው የ P. aeruginosa ባዮፊልም የአካባቢያዊ የ 2707 HDSS ዝገትን ያሻሽላል።Yuan et al.29 የ Cu-Ni 70/30 ቅይጥ የዝገት የአሁኑ ጥግግት በP. aeruginosa ባዮፊልም እርምጃ ጨምሯል።ይህ በፕሴዶሞናስ ኤሩጂኖሳ ባዮፊልሞች የኦክስጅን ቅነሳ ባዮኬታላይዝስ ምክንያት ሊሆን ይችላል።ይህ ምልከታ በዚህ ሥራ ውስጥ MIC 2707 HDSSን ሊያብራራ ይችላል።በተጨማሪም በኤሮቢክ ባዮፊልሞች ውስጥ አነስተኛ ኦክሲጅን ሊኖር ይችላል.ስለዚህ የብረት ንጣፉን በኦክሲጅን እንደገና ለማለፍ ፈቃደኛ አለመሆኑ በዚህ ሥራ ውስጥ ለኤምአይሲ አስተዋፅኦ ያለው ምክንያት ሊሆን ይችላል.
ዲኪንሰን እና ሌሎች.38 የኬሚካላዊ እና ኤሌክትሮኬሚካላዊ ግብረመልሶች መጠን በናሙና ወለል ላይ ባለው የሴሲል ባክቴሪያ ሜታቦሊዝም እንቅስቃሴ እና የዝገት ምርቶች ባህሪ ላይ በቀጥታ ሊነኩ እንደሚችሉ ጠቁመዋል።በስእል 5 እና ሠንጠረዥ 5 ላይ እንደሚታየው የሴሎች ብዛት እና የባዮፊልም ውፍረት ከ 14 ቀናት በኋላ ቀንሷል.ይህ በምክንያታዊነት ሊገለጽ የሚችለው ከ14 ቀናት በኋላ በ2707 HDSS ላይ ያሉት አብዛኞቹ የሴሲል ህዋሶች በ2216E መካከለኛ ንጥረ-ምግቦች መሟጠጥ ወይም ከ2707 HDSS ማትሪክስ ውስጥ መርዛማ የብረት ions በመልቀቃቸው ምክንያት ሞተዋል።ይህ የቡድን ሙከራዎች ገደብ ነው.
በዚህ ሥራ ውስጥ, የ P. aeruginosa ባዮፊልም በ 2707 ኤችዲኤስኤስ (ምስል 6) ላይ ባለው ባዮፊልም ስር ለአካባቢው የ Cr እና Fe ቅነሳ አስተዋጽኦ አድርጓል.ሠንጠረዥ 6 በ P. aeruginosa ባዮፊልም ምክንያት የተሟሟት Fe እና Cr ለመጀመሪያዎቹ 7 ቀናት እንደቀጠለ የሚያሳይ የ Fe እና Cr ናሙና D ከናሙና ሲ ጋር ሲወዳደር ያሳያል።የ 2216E አካባቢ የባህር አካባቢን ለመምሰል ያገለግላል.በተፈጥሮ የባህር ውሃ ውስጥ ካለው ይዘት ጋር ተመጣጣኝ የሆነ 17700 ppm Cl- ይዟል.የ 17700 ppm Cl መገኘት በ XPS በ 7 እና 14-ቀን የአቢዮቲክ ናሙናዎች ውስጥ Cr እንዲቀንስ ዋናው ምክንያት ነው.ከ P. aeruginosa ናሙናዎች ጋር ሲነጻጸር፣ 2707 ኤችዲኤስኤስ በአቢዮቲክ ሁኔታዎች ውስጥ ክሎሪንን ለመከላከል ባለው ጠንካራ የመቋቋም አቅም ምክንያት የ Cr በአቢዮቲክ ናሙናዎች ውስጥ መሟሟት በጣም ያነሰ ነበር።በለስ ላይ.9 በፓስፊክ ፊልም ውስጥ Cr6+ መኖሩን ያሳያል.በቼን እና ክሌይተን እንደተጠቆመው ክሮሚየም ከብረት ንጣፎች በ P. aeruginosa biofilms በማስወገድ ሂደት ውስጥ ሊሳተፍ ይችላል።
በባክቴሪያ እድገት ምክንያት የመካከለኛው የፒኤች መጠን ከመትከሉ በፊት እና በኋላ 7.4 እና 8.2 ነበሩ.ስለዚህ, ከ P. aeruginosa ባዮፊልም በታች, የኦርጋኒክ አሲድ ዝገት በጅምላ መካከለኛ ከፍተኛ መጠን ያለው ፒኤች ምክንያት ለዚህ ሥራ አስተዋጽኦ ሊያደርግ አይችልም.በ 14 ቀናት የሙከራ ጊዜ ውስጥ የባዮሎጂካል ያልሆነ መቆጣጠሪያ መካከለኛ ፒኤች (ከመጀመሪያው 7.4 እስከ መጨረሻው 7.5) በከፍተኛ ሁኔታ አልተለወጠም.ከክትባቱ በኋላ በዘር መካከለኛ ውስጥ ያለው የፒኤች መጠን መጨመር በፒ.ኤውጂኖሳ ሜታቦሊዝም እንቅስቃሴ ምክንያት እና የሙከራ ቁርጥራጮች በማይኖሩበት ጊዜ በ pH ላይ ተመሳሳይ ውጤት ተገኝቷል.
በስእል 7 እንደሚታየው በP. aeruginosa biofilm የተፈጠረው ከፍተኛው የጉድጓድ ጥልቀት 0.69 μm ሲሆን ይህም ከአቢዮቲክ መካከለኛ (0.02 μm) የበለጠ ነው።ይህ ከላይ ከተገለፀው የኤሌክትሮኬሚካል መረጃ ጋር ይጣጣማል.የ0.69 µm ጉድጓድ ጥልቀት በተመሳሳይ ሁኔታ ለ 2205 DSS ከተመዘገበው 9.5 μm ዋጋ ከአሥር እጥፍ ያነሰ ነው።እነዚህ መረጃዎች እንደሚያሳዩት 2707 HDSS ከ2205 DSS የተሻለ የመቋቋም አቅም እንዳለው ያሳያል።ይህ ሊያስደንቅ አይገባም 2707 HDSS ከፍ ያለ የ Cr ደረጃዎች ስላሉት ረዘም ላለ ጊዜ ማለፍን የሚሰጥ ፣ P. aeruginosa ን ለማዳከም በጣም ከባድ እና ምክንያቱም ጎጂ ሁለተኛ ደረጃ ዝናብ ከሌለው ሚዛናዊ የደረጃ አወቃቀሩ ጉድጓዶችን ያስከትላል።
በማጠቃለያው የ MIC ጉድጓዶች በ 2707 HDSS ላይ በ P. aeruginosa broth ውስጥ በአቢዮቲክ አከባቢ ውስጥ ከሚገኙ ጥቃቅን ጉድጓዶች ጋር ሲነፃፀሩ ተገኝተዋል.ይህ ስራ እንደሚያሳየው 2707 HDSS ከ 2205 DSS የተሻለ የ MIC መቋቋም አለው, ነገር ግን በ P. aeruginosa biofilm ምክንያት ከ MIC ሙሉ በሙሉ አይከላከልም.እነዚህ ውጤቶች ተስማሚ አይዝጌ አረብ ብረቶች እና ለባህር አከባቢ የህይወት ተስፋን ለመምረጥ ይረዳሉ.
ኩፖን ለ 2707 HDSS በሰሜን ምስራቅ ዩኒቨርሲቲ (NEU) የብረታ ብረት ትምህርት ቤት በሼንያንግ፣ ቻይና።የ 2707 HDSS ኤለመንታዊ ቅንጅት በሰንጠረዥ 1 ውስጥ ይታያል, እሱም በ NEU የቁሳቁስ ትንተና እና የሙከራ ክፍል ተተነተነ.ሁሉም ናሙናዎች በ 1180 ዲግሪ ሴንቲ ግሬድ ውስጥ ለ 1 ሰዓት ያህል ለጠንካራ መፍትሄ ተወስደዋል.ከዝገት ሙከራ በፊት የሳንቲም ቅርጽ ያለው 2707 HDSS ከላይ ክፍት የሆነ ስፋት 1 ሴሜ 2 ወደ 2000 ግሪት በሲሊኮን ካርቦዳይድ አሸዋ ወረቀት ተጠርጓል እና ከዚያም በ 0.05 µm Al2O3 ዱቄት ተፈጭቷል።ጎኖቹ እና የታችኛው ክፍል በማይታወቅ ቀለም የተጠበቁ ናቸው.ከደረቁ በኋላ, ናሙናዎቹ በንፁህ ዲዮኒዝድ ውሃ ታጥበው በ 75% (v / v) ኤታኖል ለ 0.5 ሰአታት ይጸዳሉ.ከዚያም ጥቅም ላይ ከመዋሉ በፊት ለ 0.5 ሰአታት ያህል በአልትራቫዮሌት (UV) መብራት ውስጥ በአየር ደርቀዋል.
Marine Pseudomonas aeruginosa strain MCCC 1A00099 የተገዛው ከ Xiamen Marine Culture Collection Center (MCCC)፣ ቻይና ነው።Pseudomonas aeruginosa ማሪን 2216E ፈሳሽ መካከለኛ (Qingdao Hope ባዮቴክኖሎጂ Co., Ltd., Qingdao, ቻይና) በመጠቀም በ 250 ሚሊ ፍላሽ እና 500 ሚሊ መስታወት ኤሌክትሮ ኬሚካል ሴሎች ውስጥ በ 37 ° ሴ ውስጥ ኤሮቢክ ሁኔታዎች ውስጥ አድጓል.መካከለኛ (ግ/ል) ይይዛል፡ 19.45 NaCl፣ 5.98 MgCl2፣ 3.24 Na2SO4፣ 1.8 CaCl2፣ 0.55 KCl፣ 0.16 Na2CO3፣ 0.08 KBr፣ 0.034 SrCl2፣ 0.22, 30.30.308 SrBr 0016 6NH26NH3, 3.0016 NH3 5.0 peptone, 1.0 yeast extract እና 0.1 iron citrate.አውቶክላቭ በ 121 ዲግሪ ሴንቲ ግሬድ ውስጥ ለ 20 ደቂቃዎች ከመክተቱ በፊት.ሴሲሲል እና ፕላንክቶኒክ ሴሎችን በሄሞሲቶሜትር በብርሃን ማይክሮስኮፕ በ 400x ማጉላት ይቁጠሩ።ከተከተቡ በኋላ የፕላንክቶኒክ Pseudomonas aeruginosa የመጀመሪያ ትኩረት በግምት 106 ሕዋሳት / ml ነበር።
ኤሌክትሮኬሚካላዊ ሙከራዎች በ 500 ሚሊ ሜትር መካከለኛ መጠን ባለው ጥንታዊ የሶስት-ኤሌክትሮድ ብርጭቆ ሕዋስ ውስጥ ተካሂደዋል.የፕላቲነም ሉህ እና የሳቹሬትድ ካሎሜል ኤሌክትሮድ (SAE) ከሪአክተሩ ጋር የተገናኙት በሉጊን ካፒላሪዎች በጨው ድልድይ በተሞሉ ሲሆን እንደ ቅደም ተከተላቸው ቆጣሪ እና ማጣቀሻ ኤሌክትሮዶች ሆነው ያገለግላሉ።ለስራ ኤሌክትሮዶችን ለማምረት የጎማ መዳብ ሽቦ በእያንዳንዱ ናሙና ላይ ተያይዟል እና በ epoxy resin ተሸፍኗል, በአንድ በኩል 1 ሴ.ሜ 2 አካባቢ ጥበቃ ያልተደረገለት ቦታ ለሥራው ኤሌክትሮድ ይቀራል.በኤሌክትሮኬሚካላዊ ልኬቶች ወቅት, ናሙናዎቹ በ 2216E መካከለኛ እና በቋሚ የሙቀት መጠን (37 ° ሴ) በውሃ መታጠቢያ ውስጥ ይቀመጣሉ.OCP፣ LPR፣ EIS እና እምቅ ተለዋዋጭ የፖላራይዜሽን ዳታ የተለካው በAutolab potentiostat (ማጣቀሻ 600TM፣ Gamry Instruments፣ Inc.፣ USA) በመጠቀም ነው።የLPR ሙከራዎች በ 0.125 mV s-1 ከ -5 እስከ 5 mV ባለው ክልል ውስጥ በEocp እና የናሙና መጠን 1 Hz ተመዝግቧል።EIS በሳይን ሞገድ ከ 0.01 እስከ 10,000 Hz በተደጋጋሚ ክልል ውስጥ 5 mV የተተገበረ ቮልቴጅ በቋሚ ሁኔታ Eocp ተከናውኗል።እምቅ ጠረገ በፊት, የነጻ ዝገት እምቅ የተረጋጋ ዋጋ እስኪደርስ ድረስ ኤሌክትሮዶች ሥራ ፈት ሁነታ ላይ ነበሩ.ከዚያም የፖላራይዜሽን ኩርባዎች ከ -0.2 ወደ 1.5 ቮ እንደ ኢኦኮፕ በ 0.166 mV/s ቅኝት መጠን ይለካሉ.እያንዳንዱ ፈተና ከ P. aeruginosa ጋር እና ያለ 3 ጊዜ ተደግሟል.
የሜታሎግራፊ ትንተና ናሙናዎች በሜካኒካል በ እርጥብ 2000 ግሪት ሲሲ ወረቀት እና ከዚያም በ 0.05 μm Al2O3 ዱቄት መታገድ ለጨረር እይታ።የሜታሎግራፊ ትንተና የተደረገው በኦፕቲካል ማይክሮስኮፕ በመጠቀም ነው.ናሙናዎቹ በፖታስየም ሃይድሮክሳይድ 43 10 wt% መፍትሄ ተቀርፀዋል።
ከተመረቱ በኋላ ናሙናዎቹ 3 ጊዜ በፎስፌት ባፈርድ ሳላይን (PBS) (pH 7.4 ± 0.2) ይታጠባሉ ከዚያም በ 2.5% (v/v) glutaraldehyde ባዮፊልሞችን ለመጠገን ለ 10 ሰአታት ተስተካክለዋል.ከዚያም አየር ከመድረቁ በፊት በተጣበቀ ኢታኖል (50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% እና 100% በድምጽ) ተበላሽቷል.በመጨረሻም፣ ለሴም ምልከታ conductivity ለማቅረብ የወርቅ ፊልም በናሙናው ወለል ላይ ይቀመጣል።SEM ምስሎች በእያንዳንዱ ናሙና ወለል ላይ በጣም ሴሲል ፒ. ኤሩጊኖሳ ሴሎች ባሉባቸው ቦታዎች ላይ ያተኮሩ ነበሩ።የኬሚካል ንጥረ ነገሮችን ለማግኘት የEDS ትንተና ያካሂዱ።የጉድጓዱን ጥልቀት ለመለካት የዚስ ኮንፎካል ሌዘር ስካኒንግ ማይክሮስኮፕ (CLSM) (LSM 710፣ Zeiss, Germany) ጥቅም ላይ ውሏል።በባዮፊልሙ ስር ያሉ የዝገት ጉድጓዶችን ለመመልከት የሙከራ ናሙናው በመጀመሪያ በቻይና ብሄራዊ ስታንዳርድ (CNS) GB/T4334.4-2000 መሰረት ጸድቷል የዝገት ምርቶችን እና ባዮፊልም ከሙከራ ናሙና ወለል ላይ ለማስወገድ።
የኤክስሬይ የፎቶ ኤሌክትሮን ስፔክትሮስኮፒ (XPS፣ ESCALAB250 የገጽታ ትንተና ሥርዓት፣ ቴርሞ ቪጂ፣ ዩኤስኤ) ትንተና የተካሄደው ሞኖክሮማቲክ የኤክስሬይ ምንጭ (የአሉሚኒየም Kα መስመር ከ1500 ኢቪ ኃይል ያለው እና 150 ዋ ኃይል ያለው) በብዙ አስገዳጅ ኢነርጂዎች 0 በመደበኛ ሁኔታዎች -1350 ኢ.ቪ.ከፍተኛ ጥራት ያለው ስፔክትራ የተቀዳው የማስተላለፊያ ሃይል 50 ኢቮ እና 0.2 eV ደረጃን በመጠቀም ነው።
የተከተቡት ናሙናዎች ተወስደዋል እና በፒቢኤስ (pH 7.4 ± 0.2) ለ 15 s45 በቀስታ ታጥበዋል.በናሙናዎች ላይ የባዮፊልሞችን የባክቴሪያ አዋጭነት ለመመልከት፣ ባዮፊልሞች LIVE/DEAD BacLight Bacterial Viability Kit (Invitrogen፣ Eugene፣ OR፣ USA) በመጠቀም ተበክለዋል።ኪቱ ሁለት የፍሎረሰንት ማቅለሚያዎችን ይዟል፡ SYTO-9 አረንጓዴ የፍሎረሰንት ቀለም እና propidium iodide (PI) ቀይ የፍሎረሰንት ቀለም።በCLSM ውስጥ፣ የፍሎረሰንት አረንጓዴ እና ቀይ ነጠብጣቦች እንደቅደም ተከተላቸው የቀጥታ እና የሞቱ ሴሎችን ይወክላሉ።ለቀለም 1 ሚሊር ድብልቅ 3 μl SYTO-9 እና 3 μl ፒአይ መፍትሄ ለ 20 ደቂቃዎች በክፍል ሙቀት (23 ዲግሪ ሴንቲ ግሬድ) በጨለማ ውስጥ ተተክሏል።ከዚያ በኋላ፣ የተበከሉት ናሙናዎች በሁለት የሞገድ ርዝመት (488 nm የቀጥታ ህዋሶች እና 559 nm ለሞቱ ሴሎች) በኒኮን CLSM መሳሪያ (C2 Plus፣ Nikon፣ Japan) ተጠቅመዋል።የባዮፊልም ውፍረት የሚለካው በ3-ል ቅኝት ሁነታ ነው።
ይህን ጽሑፍ እንዴት እንደሚጠቅስ፡ Li, H. et al.የ2707 ሱፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት በፕሴዶሞናስ ኤሩጊኖሳ የባህር ባዮፊልም ማይክሮቢያል ዝገት።ሳይንስ ።6, 20190. doi: 10.1038/srep20190 (2016).
Zanotto, F., Grassi, V., Balbo, A., Monticelli, C. & Zucchi, F. የ LDX 2101 ድብልክስ አይዝጌ ብረት በክሎራይድ መፍትሄዎች በ thiosulphate ውስጥ የጭንቀት ዝገት ስንጥቅ. Zanotto, F., Grassi, V., Balbo, A., Monticelli, C. & Zucchi, F. የ LDX 2101 ድብልክስ አይዝጌ ብረት በክሎራይድ መፍትሄዎች በ thiosulphate ውስጥ የጭንቀት ዝገት ስንጥቅ. ዛኖቶ፣ ኤፍ.፣ ግራሲ፣ ቪ.፣ ባልቦ፣ ኤ.፣ ሞንቲሴሊ፣ ሲ. እና ዙቺ፣ ኤፍ. оридов в присутствии тиосульфата. Zanotto, F., Grassi, V., Balbo, A., Monticelli, C. & Zucchi, F. የዲፕሌክስ አይዝጌ ብረት ኤልዲኤክስ 2101 የጭንቀት ዝገት በክሎራይድ መፍትሄዎች በቲዮሰልፌት ውስጥ. ዛኖቶ፣ ኤፍ.፣ ግራሲ፣ ቪ.፣ ባልቦ፣ ኤ.፣ Monticelli፣ C. & Zucchi፣ F. LDX 2101 ዛኖቶ፣ ኤፍ.፣ ግራሲ፣ ቪ.፣ ባልቦ፣ ኤ.፣ ሞንቲሴሊ፣ ሲ. እና ዙቺ፣ ኤፍ.ኤልዲኤክስ 2101 ዛኖቶ፣ ኤፍ.፣ ግራሲ፣ ቪ.፣ ባልቦ፣ ኤ.፣ ሞንቲሴሊ፣ ሲ. እና ዙቺ፣ ኤፍ. орида в присутствии тиосульфата. Zanotto, F., Grassi, V., Balbo, A., Monticelli, C. & Zucchi, F. ውጥረት ዝገት የዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት LDX 2101 በክሎራይድ መፍትሄ በ thiosulfate ውስጥ.ኮርስ ሳይንስ 80, 205-212 (2014).
ኪም፣ ST፣ Jang፣ SH፣ Lee፣ IS & Park፣ YS የመፍትሄው ሙቀት-ህክምና እና ናይትሮጅን በመከላከያ ጋዝ ውስጥ የሃይፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ብየዳዎችን ዝገት የመቋቋም ውጤቶች። ኪም፣ ST፣ Jang፣ SH፣ Lee፣ IS & Park፣ YS የመፍትሄው ሙቀት-ህክምና እና ናይትሮጅን በመከላከያ ጋዝ ውስጥ የሃይፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ብየዳዎችን ዝገት የመቋቋም ውጤቶች።ኪም፣ ST፣ Jang፣ SH፣ Lee፣ IS እና Park፣ YS የመፍትሄው ሙቀት ሕክምና እና ናይትሮጅን በመከላከያ ጋዝ ላይ የሃይፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ብየዳውን የዝገት መቋቋም ውጤት። ኪም፣ ST፣ ጃንግ፣ SH፣ ሊ፣ አይኤስ እና ፓርክ፣ YS ኪም፣ ST፣ Jang፣ SH፣ Lee፣ IS & Park፣ YSኪም፣ ST፣ Jang፣ SH፣ Lee፣ IS እና Park፣ YS የመፍትሄው ሙቀት ሕክምና እና ናይትሮጅን በመከላከያ ጋዝ ላይ የሱፐር ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ብየዳውን የዝገት መቋቋም ውጤት።koros.ሳይንስ ።53, 1939-1947 (2011).
Shi, X., Avci, R., Geiser, M. & Lewandowski, Z. የ 316L አይዝጌ ብረት ጥቃቅን እና ኤሌክትሮኬሚካል በኬሚስትሪ ውስጥ በንፅፅር ጥናት. Shi, X., Avci, R., Geiser, M. & Lewandowski, Z. የ 316L አይዝጌ ብረት ጥቃቅን እና ኤሌክትሮኬሚካል በኬሚስትሪ ውስጥ በንፅፅር ጥናት.ሺ፣ ኤክስ.፣ አቪቺ፣ አር ሺ፣ X.፣ Avci፣ R.፣ Geiser፣ M. & Lewandowski፣ Z. 微生物和电化学诱导的316L 不锈钢点蚀的化学比较研究。 Shi፣ X.፣ Avci፣ R.፣ Geiser፣ M. & Lewandowski፣ Z.Shi, X., Avchi, R., Geyser, M. እና Lewandowski, Z. በ 316L አይዝጌ ብረት ውስጥ በማይክሮባዮሎጂ እና በኤሌክትሮኬሚካላዊ የተፈጠረ ጉድጓዶች ላይ ተመጣጣኝ ኬሚካላዊ ጥናት.koros.ሳይንስ ።45, 2577-2595 (2003).
Luo, H., Dong, CF, Li, XG & Xiao, K. የ 2205 ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ኤሌክትሮኬሚካላዊ ባህሪ በአልካላይን መፍትሄዎች በተለያየ ፒኤች ውስጥ በክሎራይድ ውስጥ. Luo, H., Dong, CF, Li, XG & Xiao, K. የ 2205 ዱፕሌክስ አይዝጌ ብረት ኤሌክትሮኬሚካላዊ ባህሪ በአልካላይን መፍትሄዎች በተለያየ ፒኤች ውስጥ በክሎራይድ ውስጥ.Luo H., Dong KF, Lee HG እና Xiao K. የዲፕሌክስ አይዝጌ ብረት ኤሌክትሮኬሚካላዊ ባህሪ 2205 በአልካላይን መፍትሄዎች በክሎራይድ ውስጥ የተለያየ ፒኤች. ሉኦ፣ ኤች.፣ ዶንግ፣ ሲኤፍ፣ ሊ፣ ኤክስጂ እና ዢያኦ፣ K. 2205 Luo, H., Dong, CF, Li, XG & Xiao, K. 2205 የ 双相 አይዝጌ ብረት ኤሌክትሮኬሚካላዊ ባህሪ በአልካላይን መፍትሄ ውስጥ በተለያየ ፒኤች ላይ ክሎራይድ ሲኖር.Luo H., Dong KF, Lee HG እና Xiao K. የዲፕሌክስ አይዝጌ ብረት ኤሌክትሮኬሚካላዊ ባህሪ 2205 በአልካላይን መፍትሄዎች በክሎራይድ ውስጥ የተለያየ ፒኤች.ኤሌክትሮኬሚም.መጽሔት.64, 211-220 (2012)
ትንሽ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RI የባህር ባዮፊልሞች በዝገት ላይ የሚያሳድሩት ተጽዕኖ፡ አጭር ግምገማ። ትንሽ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RI የባህር ባዮፊልሞች በዝገት ላይ የሚያሳድሩት ተጽዕኖ፡ አጭር ግምገማ።ትንሽ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RI የባህር ውስጥ ባዮፊልሞች በ corrosion ላይ የሚያሳድረው ተጽዕኖ፡ አጭር ግምገማ። ትንሹ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RI 海洋生物膜对腐蚀的影响：简明综述。 ትንሽ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RIትንሽ፣ ቢጄ፣ ሊ፣ ጄኤስ እና ሬይ፣ RI የባህር ውስጥ ባዮፊልሞች በ corrosion ላይ የሚያሳድረው ተጽዕኖ፡ አጭር ግምገማ።ኤሌክትሮኬሚም.መጽሔት.54, 2-7 (2008).