သင့်အတွေ့အကြုံကို မြှင့်တင်ရန် ကျွန်ုပ်တို့သည် ကွတ်ကီးများကို အသုံးပြုပါသည်။ဤဆိုက်ကို ဆက်လက်ရှာဖွေခြင်းဖြင့်၊ သင်သည် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကွတ်ကီးများကို အသုံးပြုခြင်းကို သဘောတူပါသည်။နောက်ထပ်အချက်အလက်များ။
သန့်စင်သော သို့မဟုတ် သန့်စင်သော ရေနွေးငွေ့ ဆေးဝါးစနစ်များတွင် မီးစက်များ၊ ထိန်းချုပ်အဆို့ရှင်များ၊ ဖြန့်ဖြူးရေးပိုက်များ သို့မဟုတ် ပိုက်လိုင်းများ၊ သာမိုဒိုင်းနမစ် သို့မဟုတ် မျှခြေအပူထိန်းအငွေ့များ၊
ဤအစိတ်အပိုင်းအများစုကို 316 L stainless steel ဖြင့်ပြုလုပ်ထားပြီး fluoropolymer gaskets (ပုံမှန်အားဖြင့် Teflon သို့မဟုတ် PTFE ဟုလည်းသိကြသော polytetrafluoroethylene) နှင့် semi-metal သို့မဟုတ် အခြားသော elastomeric ပစ္စည်းများပါဝင်ပါသည်။
ဤအစိတ်အပိုင်းများသည် အသုံးပြုနေစဉ်အတွင်း သံချေးတက်ခြင်း သို့မဟုတ် ပျက်စီးယိုယွင်းခြင်းတို့ကို ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး ပြီးသွားသော Clean Steam (CS) utility ၏ အရည်အသွေးကို ထိခိုက်စေပါသည်။ဤဆောင်းပါးတွင် အသေးစိတ်ဖော်ပြထားသော ပရောဂျက်သည် CS စနစ်ဖြစ်ရပ်လေ့လာမှုလေးခုမှ သံမဏိနမူနာများကို အကဲဖြတ်ကာ လုပ်ငန်းစဉ်နှင့် အရေးပါသော အင်ဂျင်နီယာစနစ်များပေါ်တွင် ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော သံချေးတက်နိုင်ခြေကို အကဲဖြတ်ကာ ကွန်ဒွန်ဆိတ်အတွင်းရှိ အမှုန်များနှင့် သတ္တုများကို စမ်းသပ်ထားသည်။
သံချေးတက်နေသော ပိုက်များနှင့် ဖြန့်ဖြူးရေးစနစ် အစိတ်အပိုင်းများ၏ နမူနာများကို ချေးယူခြင်း၏ ရလဒ်များကို စစ်ဆေးရန် ထားရှိထားပါသည်။9 သီးခြားအခြေအနေတစ်ခုစီအတွက် မတူညီသောမျက်နှာပြင်အခြေအနေများကို အကဲဖြတ်ခဲ့သည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ ပုံမှန် blush နှင့် corrosion သက်ရောက်မှုများကို အကဲဖြတ်ခဲ့သည်။
ရည်ညွှန်းနမူနာများ၏ မျက်နှာပြင်များကို အမြင်အာရုံစစ်ဆေးခြင်း၊ Auger electron spectroscopy (AES)၊ ဓာတုဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် အီလက်ထရွန် spectroscopy (ESCA)၊ scanning electron microscopy (SEM) နှင့် X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) ကို အသုံးပြု၍ ကိုးကားနမူနာများ၏ မျက်နှာပြင်များကို အကဲဖြတ်ထားပါသည်။
ဤနည်းလမ်းများသည် သံချေးတက်ခြင်းနှင့် အနည်အနှစ်များ၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် အက်တမ်ဂုဏ်သတ္တိများကို ဖော်ပြနိုင်သည့်အပြင် နည်းပညာဆိုင်ရာ အရည်များ သို့မဟုတ် ထုတ်ကုန်များ၏ ဂုဏ်သတ္တိများကို ထိခိုက်စေသည့် အဓိကအချက်များကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။တစ်ခု
သံမဏိ၏ သံမဏိ၏ တိုက်စားခြင်း ထုတ်ကုန်များသည် သံအောက်ဆိုဒ် (အနက်ရောင် သို့မဟုတ် မီးခိုးရောင်) အောက်မျက်နှာပြင် သို့မဟုတ် သံအောက်ဆိုဒ် (အနက်ရောင် သို့မဟုတ် မီးခိုးရောင်) မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် သံအောက်ဆိုဒ် (အညိုရောင် သို့မဟုတ် အနီ) ကဲ့သို့သော ပုံစံအမျိုးမျိုးဖြင့် ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သည်။မြစ်အောက်ပိုင်းသို့ ရွှေ့ပြောင်းနိုင်မှု။
ရေနွေးငွေ့ပိုးသတ်ပြီးနောက် ပိုးသတ်ခန်းနှင့် ပစ္စည်းများ သို့မဟုတ် ကွန်တိန်နာများ၏ မျက်နှာပြင်များပေါ်တွင် အမှုန်များ သို့မဟုတ် အနည်များဖြင့် မြင်နေရသည့် အမှုန်များ သို့မဟုတ် အနည်များဖြင့် သက်သေပြနိုင်သောကြောင့် သံအောက်ဆိုဒ်အလွှာ (အနက်ရောင် နီညိုရောင်) သည် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ ထူလာနိုင်သည်။ဓာတ်ခွဲခန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုတွင် ကွန်ဒွန်ဆိတ်နမူနာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့် sludge ၏ သဘောသဘာဝနှင့် CS အရည်တွင် ပျော်ဝင်နိုင်သော သတ္တုပမာဏကို ပြသခဲ့သည်။လေး
ဤဖြစ်စဉ်အတွက် အကြောင်းရင်းများစွာရှိသော်လည်း CS မီးစက်သည် များသောအားဖြင့် အဓိကပံ့ပိုးပေးသူဖြစ်သည်။မျက်နှာပြင်များပေါ်တွင် သံအောက်ဆိုဒ် (အညို/အနီ) နှင့် CS ဖြန့်ဖြူးမှုစနစ်မှတဆင့် ဖြည်းညှင်းစွာ ရွေ့လျားလာသော လေပေါက်များတွင် သံအောက်ဆိုဒ် (အနက်ရောင်/မီးခိုးရောင်) ကို တွေ့ရှိရခြင်းသည် အဆန်းမဟုတ်ပါ။၆
CS ဖြန့်ချီရေးစနစ်သည် ဝေးလံခေါင်သီသောနေရာများတွင် သို့မဟုတ် ပင်မခေါင်းစီး၏အဆုံးနှင့် အမျိုးမျိုးသောဌာနခွဲခွဲခေါင်းစီးများ၏အဆုံးတွင် အဆုံးရှိသော အသုံးပြုမှုအချက်များစွာပါရှိသော အကိုင်းအခက်ဖွဲ့စည်းမှုတစ်ခုဖြစ်သည်။စနစ်တွင် ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော သံချေးတက်နိုင်သည့် အမှတ်များဖြစ်နိုင်သည့် တိကျသောအသုံးပြုသည့်နေရာများတွင် ဖိအား/အပူချိန်လျှော့ချရန် စတင်ကူညီရန် ထိန်းညှိကိရိယာများစွာ ပါဝင်နိုင်သည်။
ထောင်ချောက်မှတဆင့် သန့်စင်သော ရေနွေးငွေ့များ စီးဆင်းခြင်းမှ သန့်စင်သော ရေနွေးငွေ့များကို ဖယ်ရှားရန်အတွက် စနစ်အတွင်းရှိ နေရာအမျိုးမျိုးတွင် ထားရှိထားသော တစ်ကိုယ်ရေသန့်ရှင်းမှု ဒီဇိုင်းထောင်ချောက်များတွင်လည်း ညစ်ညမ်းမှု ဖြစ်ပေါ်နိုင်သည်။
အများစုတွင်၊ ပြောင်းပြန် ရွှေ့ပြောင်းခြင်းသည် ထောင်ချောက်ပေါ်တွင် သံချေးများစုပုံလာပြီး ကပ်လျက်ပိုက်လိုင်းများ သို့မဟုတ် သုံးစွဲမှုစုဆောင်းသူများ၏ အထက်ပိုင်းသို့ ပေါက်ရောက်ရာ၊ထောင်ချောက်များ သို့မဟုတ် အခြားသော အစိတ်အပိုင်းများတွင် ဖြစ်ပေါ်သော သံချေးများကို အရင်းမြစ်၏ အထက်ပိုင်းတွင် အဆက်မပြတ် ရွှေ့ပြောင်းခြင်းဖြင့် ရေအောက်နှင့် ရေဆန်ကို မြင်တွေ့နိုင်သည်။
အချို့သော သံမဏိ အစိတ်အပိုင်းများသည် မြစ်ဝကျွန်းပေါ်ရှိ ဖရက်ရိုက်အပါအဝင် အလယ်အလတ်မှ မြင့်မားသော သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာ တည်ဆောက်ပုံများ အမျိုးမျိုးကို ပြသသည်။Ferrite ပုံဆောင်ခဲများသည် 1-5% အနည်းငယ်သာရှိသော်လည်း ချေးခံနိုင်ရည်ကို လျှော့ချပေးသည်ဟု ယုံကြည်ကြသည်။
Ferrite သည် austenitic crystal တည်ဆောက်ပုံကဲ့သို့ ချေးတက်မှုကို ခံနိုင်ရည်မရှိသောကြောင့် ဦးစားပေးအားဖြင့် ပုပ်သွားမည်ဖြစ်သည်။Ferrite များကို ferrite probe ဖြင့် တိကျစွာ သိရှိနိုင်ပြီး သံလိုက်ဖြင့် semi-accurate ပြုလုပ်နိုင်သော်လည်း သိသာထင်ရှားသော ကန့်သတ်ချက်များရှိပါသည်။
စနစ်ထည့်သွင်းခြင်းမှ၊ ကနဦးတာဝန်ပေးခြင်းနှင့် CS ဂျင်နရေတာနှင့် ဖြန့်ဖြူးရေးပိုက်အသစ်တစ်ခု စတင်ခြင်းမှ၊ ချေးယူခြင်းကို အထောက်အကူဖြစ်စေသော အချက်များစွာ ရှိပါသည်။
အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ၊ ယင်းကဲ့သို့သော အဆိပ်သင့်သောဒြပ်စင်များသည် သံနှင့် သံရောနှောမှုများနှင့် ထပ်နေသောအခါတွင် သံချေးတက်သည့်ပစ္စည်းများကို ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။အနက်ရောင် ပြာများကို အများအားဖြင့် ဂျင်နရေတာတွင် ဦးစွာမြင်ရပြီး၊ ထို့နောက်တွင် ၎င်းကို ဂျင်နရေတာ ပိုက်လိုင်းတွင် ပေါ်လာပြီး နောက်ဆုံးတွင် CS ဖြန့်ဖြူးမှုစနစ် တစ်လျှောက်လုံးတွင် တွေ့ရပါသည်။
မျက်နှာပြင်တစ်ခုလုံးကို ပုံဆောင်ခဲများနှင့် အခြားအမှုန်အမွှားများဖြင့် ဖုံးအုပ်ထားသော သံချေးတက်ခြင်းမှထွက်ကုန်များ၏ သေးငယ်သောဖွဲ့စည်းပုံအား SEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအား ပြုလုပ်ခဲ့ပါသည်။အမှုန်များကိုတွေ့ရှိသည့် နောက်ခံ သို့မဟုတ် အောက်ခြေမျက်နှာပြင်သည် သံအဆင့်အမျိုးမျိုး (ပုံ 1-3) မှ တူညီသောနမူနာများဖြစ်သည့် ဆီလီကာ/သံ၊ သဲ၊ ဖန်ရည်များ၊ တစ်သားတည်းရှိသော အနည်များ (ပုံ 4) အထိ ကွဲပြားသည်။ရေနွေးငွေ့ထောင်ချောက်ကိုလည်း ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခဲ့သည် (ပုံ ၅-၆)။
AES စမ်းသပ်ခြင်းသည် stainless steel ၏မျက်နှာပြင်ဓာတုဗေဒကိုဆုံးဖြတ်ရန်နှင့်၎င်း၏ corrosion resistance ကိုစစ်ဆေးရန်အသုံးပြုသောခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။၎င်းသည် passive film ၏ ယိုယွင်းလာမှုနှင့် passive film တွင် chromium အာရုံစူးစိုက်မှု လျော့နည်းသွားသည်ကို ပြသည် ။
နမူနာတစ်ခုစီ၏ မျက်နှာပြင်၏ ဒြပ်စင်ဖွဲ့စည်းမှုကို လက္ခဏာရပ်အဖြစ် သတ်မှတ်ရန်၊ AES စကင်န်ဖတ်ခြင်း (အတိမ်အနက်မှ မျက်နှာပြင်ဒြပ်စင်များ၏ စူးစိုက်မှုပရိုဖိုင်) ကို အသုံးပြုခဲ့သည်။
SEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် တိုးမြှင့်ခြင်းအတွက် အသုံးပြုသည့် ဝဘ်ဆိုက်တစ်ခုစီအား ပုံမှန်ဒေသများမှ အချက်အလက်များကို ပေးဆောင်ရန် ဂရုတစိုက်ရွေးချယ်ထားပါသည်။လေ့လာမှုတစ်ခုစီသည် ထိပ်တန်းမော်လီကျူးအလွှာအနည်းငယ်မှ (အလွှာတစ်ခုလျှင် 10 angstroms [Å] တွင် ခန့်မှန်းထားသည်) မှ သတ္တုသတ္တုစပ်၏အတိမ်အနက် (200 မှ 1000 Å) အထိ အချက်အလက်များကို ပေးသည်။
သံ (Fe)၊ ခရိုမီယမ် (Cr)၊ နီကယ် (Ni)၊ အောက်ဆီဂျင် (O) နှင့် ကာဗွန် (C) တို့ကို Rouge ဒေသအားလုံးတွင် မှတ်တမ်းတင်ထားသည်။AES ဒေတာနှင့် ရလဒ်များကို ဖြစ်ရပ်လေ့လာမှု ကဏ္ဍတွင် ဖော်ပြထားပါသည်။
ကနဦးအခြေအနေများအတွက် AES ရလဒ်များအားလုံးသည် Fe နှင့် O (သံအောက်ဆိုဒ်များ) နှင့် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ Cr ပါဝင်မှုနည်းသော ပုံမှန်မဟုတ်သော ပြင်းအားများသောနမူနာများတွင် ပြင်းထန်သောဓာတ်တိုးမှုဖြစ်ပေါ်ကြောင်းပြသသည်။ဤနီမြန်းသောသိုက်သည် ထုတ်ကုန်နှင့် ထိတွေ့နေသော မျက်နှာပြင်များကို ညစ်ညမ်းစေနိုင်သော အမှုန်အမွှားများ ထွက်လာစေသည်။
blush ကိုဖယ်ရှားပြီးနောက်၊ "passivated" နမူနာများသည် Cr သည် Fe ထက်ပိုမိုမြင့်မားသောအာရုံစူးစိုက်မှုအဆင့်သို့ရောက်ရှိပြီး Cr:Fe မျက်နှာပြင်အချိုး 1.0 မှ 2.0 နှင့် သံအောက်ဆိုဒ်လုံးဝမရှိတော့သည်ကိုပြသခဲ့သည်။
Fe, Cr, sulfur (S), calcium (Ca), sodium (Na), phosphorus (P), နိုက်ထရိုဂျင် (N) နှင့် O. နှင့် C (ဇယား A) ၏ ဒြပ်စင်ပါဝင်မှုများနှင့် ရောင်စဉ်တန်းဓာတ်တိုးမှုကို နှိုင်းယှဉ်ရန် XPS/ESCA သုံးပြီး ကြမ်းတမ်းသောမျက်နှာပြင်အမျိုးမျိုးကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခဲ့သည်။
အခြေခံသတ္တုစပ်များတွင်တွေ့ရလေ့ရှိသော passivation အလွှာနှင့်နီးစပ်သောတန်ဖိုးများမှ Cr ပါဝင်မှုတွင် ထင်ရှားသောကွာခြားချက်ရှိပါသည်။မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် တွေ့ရသော သံနှင့် ခရိုမီယမ် အဆင့်များသည် နီရဲသော အသိုက်များ၏ အထူနှင့် အဆင့်များကို ကိုယ်စားပြုသည်။XPS စမ်းသပ်မှုများသည် သန့်စင်ထားသော နှင့် passivated မျက်နှာပြင်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ကြမ်းတမ်းသောမျက်နှာပြင်များတွင် Na, C သို့မဟုတ် Ca တိုးလာကြောင်း ပြသထားသည်။
XPS စမ်းသပ်ခြင်းတွင် သံအနီရောင် (အနက်ရောင်) အနီရောင်တွင် C အဆင့်မြင့်မားသည့်အပြင် အနီရောင်တွင် Fe(x)O(y) (iron oxide) ကိုပြသခဲ့သည်။XPS ဒေတာသည် သံချေးတက်နေစဉ်အတွင်း မျက်နှာပြင်ပြောင်းလဲမှုများကို နားလည်ရန်အတွက် အသုံးမ၀င်ပေ။ရလဒ်များကိုစနစ်တကျအကဲဖြတ်ရန် ပိုကြီးသောနမူနာများဖြင့် နောက်ထပ် XPS စမ်းသပ်ခြင်း လိုအပ်ပါသည်။
ယခင်စာရေးဆရာများသည် XPS ဒေတာကိုအကဲဖြတ်ရန်အခက်အခဲရှိခဲ့သည်။10 ဖယ်ရှားခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း ကွင်းဆင်းလေ့လာတွေ့ရှိချက်များသည် ကာဗွန်ပါဝင်မှုမြင့်မားပြီး စီမံဆောင်ရွက်နေစဉ်အတွင်း စစ်ထုတ်ခြင်းဖြင့် ဖယ်ရှားလေ့ရှိကြောင်းပြသခဲ့သည်။အရေးအကြောင်းများကို ဖယ်ရှားခြင်းမပြုမီနှင့် ကုသပြီးနောက် ယူထားသော SEM မိုက်ခရိုဂရပ်များသည် သံချေးတက်ခြင်းကို တိုက်ရိုက်ထိခိုက်စေသည့် pitting နှင့် porosity အပါအဝင် ဤအနည်အနှစ်များကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော မျက်နှာပြင်ပျက်စီးမှုကို သရုပ်ဖော်သည်။
passivation ပြီးနောက် XPS ရလဒ်များသည် passivation ဖလင်ကို ပြန်လည်ဖွဲ့စည်းသောအခါ မျက်နှာပြင်ရှိ Cr:Fe ပါဝင်မှုအချိုးသည် ပိုမိုမြင့်မားကြောင်းပြသခဲ့ပြီး၊ ထို့ကြောင့် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ သံချေးတက်နှုန်းနှင့် အခြားဆိုးရွားသောသက်ရောက်မှုများကို လျှော့ချပေးသည်။
ကူပွန်နမူနာများက “as” မျက်နှာပြင်နှင့် passivated မျက်နှာပြင်အကြား Cr:Fe အချိုးကို သိသာထင်ရှားစွာ တိုးလာကြောင်း ပြသခဲ့သည်။ကနဦး Cr:Fe အချိုးများကို 0.6 မှ 1.0 အကွာအဝေးတွင် စမ်းသပ်ခဲ့ပြီး၊ ကုသမှုအပြီး passivation အချိုးသည် 1.0 မှ 2.5 အထိ ရှိခဲ့သည်။electropolished နှင့် passivated stainless steels များအတွက် တန်ဖိုးများသည် 1.5 နှင့် 2.5 ကြားဖြစ်သည်။
ပြုပြင်ပြီးသည့်နမူနာများတွင်၊ Cr:Fe အချိုး၏အမြင့်ဆုံးအနက် (AES ကိုအသုံးပြု၍တည်ဆောက်ထားသည်) သည် 3 မှ 16 Å အထိရှိသည်။၎င်းတို့သည် Coleman2 နှင့် Roll မှထုတ်ဝေသော ယခင်လေ့လာမှုများမှ အချက်အလက်များနှင့် သာသာနာပြုနှိုင်းယှဉ်ပါသည်။9 နမူနာများအားလုံး၏မျက်နှာပြင်များတွင် Fe၊ Ni၊ O၊ Cr နှင့် C စံအဆင့်များပါရှိသည်။ P, Cl, S, N, Ca နှင့် Na နည်းပါးသောအဆင့်များကို နမူနာအများစုတွင် တွေ့ရှိရသည်။
ဤအကြွင်းအကျန်များသည် ဓာတုသန့်စင်ဆေးများ၊ သန့်စင်သောရေ သို့မဟုတ် လျှပ်စစ်ကို သန့်စင်ခြင်း၏ ပုံမှန်ဖြစ်သည်။ထပ်ဆင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပြီးနောက်၊ အချို့သော ဆီလီကွန်ညစ်ညမ်းမှုကို မျက်နှာပြင်နှင့် austenite ပုံဆောင်ခဲ၏ မတူညီသောအဆင့်များတွင် တွေ့ရှိခဲ့သည်။အရင်းအမြစ်သည် CS မျိုးဆက်ဆဲလ်ရှိ ရေ/ရေနွေးငွေ့၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ပွတ်တိုက်မှုများ သို့မဟုတ် ပျော်ဝင်နေသော သို့မဟုတ် ထွင်းထုထားသော ဖန်ခွက်များ၏ ဆီလီကာပါဝင်ပုံပေါ်သည်။
CS စနစ်များတွင် တွေ့ရှိရသည့် အညစ်အကြေး ထုတ်ကုန်များသည် အလွန်ကွဲပြားကြောင်း အစီရင်ခံထားသည်။ဤစနစ်များ၏ ကွဲပြားခြားနားသော အခြေအနေများနှင့် အဆို့ရှင်များ၊ ထောင်ချောက်များနှင့် အခြားဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို သံချေးတက်နိုင်သော အခြေအနေများနှင့် သံချေးတက်ခြင်းဆိုင်ရာ ထုတ်ကုန်များဆီသို့ ဦးတည်စေသော အစိတ်အပိုင်းများ နေရာချထားခြင်းကြောင့် ဖြစ်သည်။
ထို့အပြင်၊ အစားထိုးအစိတ်အပိုင်းများကို မှန်ကန်စွာ passivated မလုပ်သော system တွင် မကြာခဏ ထည့်သွင်းလေ့ရှိသည်။CS ဂျင်နရေတာ၏ ဒီဇိုင်းနှင့် ရေအရည်အသွေးကြောင့်လည်း ညစ်ညမ်းသော ထုတ်ကုန်များသည် သိသိသာသာ ထိခိုက်ပါသည်။အချို့သော generator set အမျိုးအစားများသည် reboilers များဖြစ်ပြီး အချို့သည် tubular flashers များဖြစ်သည်။CS ဂျင်နရေတာများသည် ပုံမှန်အားဖြင့် သန့်ရှင်းသော ရေနွေးငွေ့မှ အစိုဓာတ်ကို ဖယ်ရှားရန်အတွက် အဆုံးစခရင်များကို အသုံးပြုကြပြီး အခြားသော ဂျင်နရေတာများသည် baffles သို့မဟုတ် ဆိုင်ကလုန်းများကို အသုံးပြုကြသည်။
အချို့က ဖြန့်ဖြူးပိုက်အတွင်း သံခဲနီးပါး patina ကို ထုတ်လုပ်ကြပြီး ၎င်းကို ဖုံးအုပ်ထားသည့် အနီရောင်သံ။ရှုပ်ယှက်ခတ်နေသော ဘလောက်သည် အောက်ရှိ သံအောက်ဆိုဒ် blush ဖြင့် အနက်ရောင် သံဖလင်ကို ပုံဖော်ကာ မျက်နှာပြင်ကို သုတ်ရန် ပိုလွယ်ကူသော ပါးလွှာသော နီညိုရောင်ပုံစံဖြင့် ဒုတိယ အပေါ်ယံ ဖြစ်စဉ်ကို ဖန်တီးသည်။
စည်းကမ်းအရ၊ ဤမီးခိုးပြာ-ကျပ်ခိုးနှင့်တူသောသိုက်သည် သံ-အနီရောင်ထက် များစွာပို၍ ထင်ရှားပြီး မိုဘိုင်းလ်ဖြစ်သည်။condensate တွင် သံ၏ ဓာတ်တိုးမှု အခြေအနေ တိုးလာခြင်းကြောင့်၊ ဖြန့်ဖြူးပိုက်အောက်ခြေရှိ ကွန်ဒင်းစိတ်ချန်နယ်တွင် ထုတ်ပေးသော sludge သည် သံ sludge ၏ထိပ်တွင် သံအောက်ဆိုဒ် sludge ရှိသည်။
Iron oxide blush သည် condensate collector မှတဆင့် ဖြတ်သန်းသွားပြီး၊ မြောင်းထဲတွင် မြင်နိုင်ကာ အပေါ်ဆုံးအလွှာသည် မျက်နှာပြင်ကို အလွယ်တကူ ပွတ်တိုက်သွားပါသည်။ရေအရည်အသွေးသည် blush ၏ဓာတုဖွဲ့စည်းမှုတွင်အရေးကြီးသောအခန်းကဏ္ဍမှပါဝင်သည်။
ဟိုက်ဒရိုကာဗွန်ပါဝင်မှု မြင့်မားခြင်းသည် နှုတ်ခမ်းနီတွင် ပြာများအလွန်အကျွံထွက်စေပြီး စီလီကာပါဝင်မှုပိုများသော ဆီလီကာပါဝင်မှု ပိုမိုမြင့်မားစေပြီး ချောမွေ့သော သို့မဟုတ် တောက်ပသောနှုတ်ခမ်းနီအလွှာကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။အစောပိုင်းတွင်ဖော်ပြခဲ့သည့်အတိုင်း ရေမျက်နှာပြင်မျက်မှန်များသည် ချေးတက်နိုင်ခြေရှိပြီး အပျက်အစီးများနှင့် ဆီလီကာစနစ်အတွင်းသို့ ဝင်ရောက်နိုင်စေပါသည်။
ထူထဲသောအလွှာများသည် အမှုန်များဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သောကြောင့် ရေနွေးငွေ့စနစ်များတွင် ပူပန်စေသောအကြောင်းရင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ဤအမှုန်အမွှားများသည် ရေနွေးငွေ့မျက်နှာပြင်များ သို့မဟုတ် ရေနွေးငွေ့ပိုးသတ်သည့်ကိရိယာများတွင် ရှိနေပါသည်။အောက်ဖော်ပြပါ ကဏ္ဍများသည် ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော ဆေးအာနိသင်များကို ဖော်ပြပါသည်။
ပုံ 7 နှင့် 8 ရှိ As-Is SEMs များသည် အမျိုးအစား 2 carmine ၏ microcrystalline သဘောသဘာဝကို ဖြစ်ရပ် 1 တွင်ပြသထားသည်။ အထူးသိပ်သည်းသော သံအောက်ဆိုဒ်ပုံဆောင်ခဲများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် သေးငယ်သောအကြွင်းအကျန်ပုံစံဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားသော သံအောက်ဆိုဒ်ပုံဆောင်ခဲများ။ပုံ 9 နှင့် 10 တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း ညစ်ညမ်းသောမျက်နှာပြင်များနှင့် ညစ်ညမ်းနေသောမျက်နှာပြင်များသည် သံချေးတက်ခြင်းပျက်စီးမှုကိုပြသခဲ့သည်မှာ ပုံ 9 နှင့် 10 တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း ကြမ်းတမ်းပြီး အနည်းငယ် စိမ့်ဝင်သောမျက်နှာပြင်ဖွဲ့စည်းပုံကိုပြသသည်။
ပုံတွင် NPP စကင်န်ဖတ်ပါ။11 သည် ၎င်းတွင် လေးလံသော သံအောက်ဆိုဒ်ဖြင့် မူလမျက်နှာပြင်၏ ကနဦးအခြေအနေကို ပြသသည်။ passivated နှင့် derouded မျက်နှာပြင် (ပုံ 12) သည် ယခုအခါ passive film တွင် Fe (အနက်ရောင်မျဉ်း) ထက် > 1.0 Cr:Fe အချိုးထက် မြင့်မားသော Cr (အနီရောင်လိုင်း) ပါဝင်ကြောင်း ညွှန်ပြပါသည်။ passivated နှင့် derouded မျက်နှာပြင် (ပုံ 12) သည် ယခုအခါ passive film တွင် Fe (အနက်ရောင်မျဉ်း) ထက် > 1.0 Cr:Fe အချိုးထက် မြင့်မားသော Cr (အနီရောင်လိုင်း) ပါဝင်ကြောင်း ညွှန်ပြပါသည်။ Пассивированная и обесточенная поверхность (рис. 12) указывает на то, что пассивная пленка тепнорь ирнисет асная линия) по сравнению с Fe (черная линия) при соотношении Cr:Fe > 1,0။ passivated နှင့် de-energized မျက်နှာပြင် (ပုံ. 12) သည် ယခုအခါ passive film တွင် Cr:Fe (black line) နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက passive film တွင် Cr:Fe (black line) နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ပါဝင်မှုတိုးလာကြောင်း ညွှန်ပြပါသည်။钝化和去皱表面（图12）表明，钝化膜现在的Cr（红线）含量高于Fe（黑线），Cr:Fe比率> 1.0. Cr(红线)含量高于Fe(黑线)၊Cr:Fe比率> 1.0။ Пассивированная и морщинистая поверхность (рис. 12) показывает, что пассивированная пленка теоперь бож имет Cr (красная линия), чем Fe (черная линия), при соотношении Cr:Fe > 1,0. passivated နှင့် အရေးအကြောင်းရှိသော မျက်နှာပြင် (ပုံ 12) သည် ယခုအခါ passivated film တွင် Cr:Fe ratio > 1.0 ထက် Cr ပါဝင်မှု (အနီရောင်မျဉ်း) ပိုများကြောင်း ပြသပါသည်။
ပိုပါးလွှာသော (< 80 Å) ပါ၀င်သော ခရိုမီယမ်အောက်ဆိုဒ် ဖလင်သည် အခြေခံသတ္တုနှင့် သံပါဝင်မှု 65% ထက် ပိုသော ရာနှင့်ချီသော အန်စထရမ် အထူပုံဆောင်ခဲ သံအောက်ဆိုဒ် ဖလင်ထက် ပိုပါးလွှာသည်။
passivated နှင့် အရေးအကြောင်းရှိသော မျက်နှာပြင်၏ ဓာတုဖွဲ့စည်းမှုအား ယခုအခါ passivated polished ပစ္စည်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်နိုင်ပါပြီ။case 1 ရှိ အနည်သည် အတန်း 2 အနည်အနှစ်ဖြစ်ပြီး၊စုပုံလာသည်နှင့်အမျှ ကြီးမားသော အမှုန်အမွှားများကို ရေနွေးငွေ့ဖြင့် ရွေ့လျားစေသည်။
ဤကိစ္စတွင်၊ ပြသထားသော သံချေးတက်မှုသည် မျက်နှာပြင်အရည်အသွေး၏ ကြီးလေးသောချို့ယွင်းချက် သို့မဟုတ် ယိုယွင်းပျက်စီးခြင်းသို့ ဦးတည်မည်မဟုတ်ပါ။ပုံမှန်တွန့်ခြင်းသည် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အဆိပ်သင့်မှုကို လျှော့ချပေးပြီး မြင်နိုင်သော အမှုန်များ၏ ပြင်းထန်စွာ ရွှေ့ပြောင်းခြင်း ဖြစ်နိုင်ခြေကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။
ပုံ 11 တွင် AES ရလဒ်များအရ မျက်နှာပြင်အနီးရှိ ထူထဲသောအလွှာများတွင် Fe နှင့် O (သံအောက်ဆိုဒ် 500 Å၊ သံပုရာစိမ်းနှင့် အပြာလိုင်းများအသီးသီး) တွင် Fe, Ni, Cr နှင့် O. Fe အာရုံစူးစိုက်မှု (အပြာလိုင်း) သည် အခြားသတ္တုများ၏ 35% မှ 65% အထိ မျက်နှာပြင်တွင် သတ္တုစပ်ထက် ပိုမိုမြင့်မားကြောင်း ပြသပါသည်။
မျက်နှာပြင်တွင် O အဆင့် (အစိမ်းဖျော့ဖျော့မျဉ်း) သည် သတ္တုစပ်တွင် 50% နီးပါးမှ 700 Å ကျော်ရှိသော အောက်ဆိုဒ်ဖလင်အထူတွင် သုညနီးပါးအထိ ရှိသည်။ Ni (အစိမ်းရင့်ရောင်မျဉ်း) နှင့် Cr (အနီရောင်မျဉ်း) အဆင့်များသည် မျက်နှာပြင် (< 4%) တွင် အလွန်နိမ့်ကျပြီး သတ္တုစပ်အတိမ်အနက်တွင် ပုံမှန်အဆင့် (11% နှင့် 17%) အထိ တိုးလာပါသည်။ Ni (အစိမ်းရင့်ရောင်မျဉ်း) နှင့် Cr (အနီရောင်မျဉ်း) အဆင့်များသည် မျက်နှာပြင် (< 4%) တွင် အလွန်နိမ့်ကျပြီး သတ္တုစပ်အတိမ်အနက်တွင် ပုံမှန်အဆင့် (11% နှင့် 17%) အထိ တိုးလာပါသည်။ Уровни Ni (темно-зеленая линия) и Cr (красная линия) чрезвычайно низки на поверхности (<4%) и увеличово 1нются до 17% сответственно) в глубине сплава။ Ni (အစိမ်းရင့်ရောင်မျဉ်း) နှင့် Cr (အနီရောင်မျဉ်း) အဆင့်များသည် မျက်နှာပြင် (<4%) တွင် အလွန်နိမ့်ကျပြီး သတ္တုစပ်တွင် ပုံမှန်အဆင့် (11% နှင့် 17% အသီးသီး) အထိ တိုးလာပါသည်။表面的Ni(深绿线)和Cr(红线)水平极低(< 4%)，而在合金深度处增加到正常水券（7% 分）。表面的Ni(深绿线)和Cr(红线)水平极低(<4%)，而在合金深度处增加到歌常水别（和1% Уровни Ni (темно-зеленая линия) и Cr (красная линия) на поверхности чрезвычайно низки (<4%) и увеличиваютроя до ине сплава (11% နှင့် 17% соответственно)။ မျက်နှာပြင်ရှိ Ni (အစိမ်းရင့်ရောင်မျဉ်း) နှင့် Cr (အနီရောင်မျဉ်း) အဆင့်များသည် အလွန်နိမ့်ပါးသော (<4%) ရှိပြီး သတ္တုစပ်အတွင်း နက်ရှိုင်းသော ပုံမှန်အဆင့်များ (11% နှင့် 17% အသီးသီး)။
ပုံတွင် AES ပုံ။12 တွင် အနီရောင် (သံအောက်ဆိုဒ်) အလွှာကို ဖယ်ရှားပြီး passivation ဖလင်ကို ပြန်လည်ရရှိကြောင်း ပြသသည်။15 Å ပင်မအလွှာတွင်၊ Cr အဆင့် (အနီရောင်မျဉ်း) သည် passive ဖလင်ဖြစ်သည့် Fe အဆင့် (အနက်ရောင်မျဉ်း) ထက် မြင့်မားသည်။အစပိုင်းတွင် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ Ni ပါဝင်မှုသည် Cr အဆင့် (± 16%) အထက် 60-70 Å တိုးလာပြီး သတ္တုစပ်အဆင့် 200 Å အထိ တိုးလာသည်။
2% မှစတင်၍ ကာဗွန်အဆင့် (အပြာလိုင်း) သည် 30 Å တွင် သုညသို့ကျဆင်းသွားသည်။ Fe အဆင့်သည် ကနဦးနိမ့် (< 15%) ဖြစ်ပြီး နောက်ပိုင်းတွင် Cr အဆင့် 15 Å နှင့် ညီမျှပြီး 150 Å တွင် 65% ကျော်တွင် သတ္တုစပ်အဆင့်သို့ ဆက်လက်တိုးလာသည်။ Fe အဆင့်သည် ကနဦးနိမ့် (< 15%) ဖြစ်ပြီး နောက်ပိုင်းတွင် Cr အဆင့် 15 Å နှင့် ညီမျှပြီး 150 Å တွင် 65% ကျော်တွင် သတ္တုစပ်အဆင့်သို့ ဆက်လက်တိုးလာသည်။ Уровень Fe вначале низкий (< 15%), позже равен уровню Cr при 15 Å и продолжает увеличиваться до в ура0ня Å။ Fe အဆင့်သည် ကနဦးနိမ့် (< 15%) ဖြစ်ပြီး နောက်ပိုင်းတွင် Cr အဆင့် 15 Å နှင့် ညီမျှပြီး 150 Å တွင် 65% သတ္တုစပ်အဆင့်အထိ ဆက်လက်တိုးလာသည်။ Fe 含量最初很低(< 15%)，后来在15 Å 时等于Cr 含量，并在150 Å 时继续增加到超的向 65% Fe 含量最初很低(< 15%)，后来在15 Å 时等于Cr 含量，并在150 Å 时继续增加到超的向 65% Содержание Fe изначально низкое (< 15 %)၊ позже оно равняется содержанию Cr при 15 Å и продолжаетья увал лава более 65 % при 150 Å ။ Fe ပါဝင်မှု ကနဦး (< 15%) နည်းပါးပြီး နောက်ပိုင်းတွင် ၎င်းသည် Cr ပါဝင်မှု 15 Å နှင့် ညီမျှကာ သတ္တုစပ်ပါဝင်မှု 150 Å တွင် 65% ကျော်သည်အထိ ဆက်လက်တိုးလာသည်။Cr အဆင့်သည် 30 Å တွင် မျက်နှာပြင်၏ 25% သို့ တိုးလာပြီး သတ္တုစပ်တွင် 17% အထိ လျော့ကျသွားသည်။
မျက်နှာပြင်အနီးရှိ မြင့်မားသော O အဆင့်သည် အနက် 120 Å ပြီးနောက် သုညသို့ ကျဆင်းသွားသည်။ဤခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာချက်သည် ကောင်းမွန်စွာတီထွင်ထားသော မျက်နှာပြင် passivation ရုပ်ရှင်ကို သရုပ်ပြခဲ့သည်။ပုံ 13 နှင့် 14 ရှိ SEM ဓာတ်ပုံများသည် မျက်နှာပြင် 1st နှင့် 2nd iron oxide အလွှာများ၏ ကြမ်းတမ်းသော၊ ကြမ်းတမ်းပြီး စိမ့်ဝင်နေသော ပုံဆောင်ခဲသဘာ၀ကို ပြသသည်။ရှုံ့တွနေသော မျက်နှာပြင်သည် တစ်စိတ်တစ်ပိုင်း ချွတ်ယွင်းနေသော မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် သံချေးတက်ခြင်း၏ အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ပြသသည် (ပုံ 18-19)။
ပုံ 13 နှင့် 14 တွင်ပြသထားသော passivated နှင့် အရေးအကြောင်းရှိသောမျက်နှာပြင်များသည် ပြင်းထန်သောဓာတ်တိုးခြင်းကိုခံနိုင်ရည်မရှိပါ။ပုံ 15 နှင့် 16 သည် သတ္တုမျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ပြန်လည်ပြုပြင်ထားသော passivation ရုပ်ရှင်ကို ပြသထားသည်။