बजारको दबाबले ट्यूब निर्माताहरूलाई कडा गुणस्तर मापदण्डहरू पालना गर्दै उत्पादकता बढाउने उपायहरू खोज्न बाध्य तुल्याउँछ, उत्तम निरीक्षण विधि र समर्थन प्रणाली छनोट गर्नु पहिले भन्दा बढी महत्त्वपूर्ण छ। धेरै ट्यूब उत्पादकहरू अन्तिम निरीक्षणमा भर पर्छन्, धेरै अवस्थामा निर्माताहरूले दोषपूर्ण सामग्रीहरू पत्ता लगाउन निर्माण प्रक्रियामा थप अपस्ट्रीम परीक्षण प्रयोग गर्छन्, तर यससँग सम्बन्धित सामग्रीको स्क्रैपले कम लागत मात्र कम गर्छ। यो दृष्टिकोणले अन्ततः उच्च नाफामा अनुवाद गर्छ। यी कारणहरूका लागि, कारखानामा गैर-विनाशकारी परीक्षण (NDT) प्रणाली थप्दा राम्रो आर्थिक अर्थ हुन्छ।
धेरै कारकहरू-सामग्रीको प्रकार, व्यास, पर्खाल मोटाई, प्रक्रिया गति र वेल्डिंग वा ट्यूब गठन गर्ने विधि-उत्तम परीक्षण निर्धारण गर्दछ। यी कारकहरूले प्रयोग गरिएको निरीक्षण विधिमा सुविधाहरूको छनोटलाई पनि प्रभाव पार्छ।
Eddy Current Testing (ET) धेरै पाइप अनुप्रयोगहरूमा प्रयोग गरिन्छ। यो तुलनात्मक रूपमा कम लागतको परीक्षण हो र पातलो पर्खाल पाइप अनुप्रयोगहरूमा प्रयोग गर्न सकिन्छ, सामान्यतया 0.250 इन्च भित्ता मोटाई सम्म। यो चुम्बकीय र गैर-चुम्बकीय सामग्रीहरूको लागि उपयुक्त छ।
सेन्सर वा परीक्षण कुण्डलहरू दुई आधारभूत कोटीहरूमा पर्छन्: र्यापराउन्ड र ट्यान्जेन्टियल। घेरिएको कुण्डले ट्यूबको सम्पूर्ण क्रस-सेक्शनको निरीक्षण गर्दछ, जबकि ट्यान्जेन्टियल कुण्डलले वेल्डेड क्षेत्र मात्र निरीक्षण गर्दछ।
र्‍याप-अराउन्ड कोइलले वेल्ड जोन मात्र नभई सम्पूर्ण आगमन स्ट्रिपमा दोषहरू पत्ता लगाउँदछ, र तिनीहरू व्यासमा 2 इन्च भन्दा सानो आकारको परीक्षण गर्दा बढी प्रभावकारी हुन्छन्। तिनीहरू प्याड बहावलाई पनि सहनशील छन्। एउटा प्रमुख बेफाइदा यो हो कि मिल मार्फत आगमन स्ट्रिप पास गर्न थप चरणहरू र परीक्षण पास गर्नको लागि अतिरिक्त हेरचाह आवश्यक छ भने, कोइल परीक्षण गर्न अतिरिक्त हेरचाह आवश्यक छ। व्यास, असफल वेल्डले ट्यूब खोल्न सक्छ, परीक्षण कुण्डलीलाई हानि पुर्‍याउँछ।
ट्यान्जेन्ट कोइलहरूले ट्यूबको परिधिको सानो भागको जाँच गर्दछ। ठूला व्यास अनुप्रयोगहरूमा, र्यापराउन्ड कुण्डलहरूको सट्टा ट्यान्जेन्टियल कुण्डलहरू प्रयोग गर्दा सामान्यतया राम्रो सिग्नल-टु-आवाज अनुपात (पृष्ठभूमिमा स्थिर संकेतको सापेक्ष परीक्षण संकेतको शक्तिको मापन) प्राप्त हुन्छ। ld zone.It ठूला व्यास पाइपहरूको लागि उपयुक्त छ र यदि वेल्ड स्थिति राम्रोसँग नियन्त्रण गरिएको छ भने सानो आकारको लागि प्रयोग गर्न सकिन्छ।
या त कुंडल प्रकारले अन्तरिक्ष विच्छेदहरूको लागि परीक्षण गर्न सक्छ। दोष परीक्षण, जसलाई शून्य वा विसंगति परीक्षण पनि भनिन्छ, लगातार आधार धातुको छेउछाउको भागसँग वेल्डको तुलना गर्दछ र विच्छेदनले गर्दा हुने साना परिवर्तनहरूप्रति संवेदनशील हुन्छ। पिनहोलहरू वा जम्प मिलको प्रयोग विधिमा प्रयोग गरिने प्राथमिक वेल्डहरू जस्ता छोटो दोषहरू पत्ता लगाउनका लागि आदर्श।
दोस्रो परीक्षण, निरपेक्ष विधिले भर्बोज त्रुटिहरू फेला पार्यो। ET को यो सरल रूपले अपरेटरलाई राम्रो सामग्रीमा प्रणालीलाई इलेक्ट्रोनिक रूपमा सन्तुलन गर्न आवश्यक छ। सामान्य, निरन्तर परिवर्तनहरू फेला पार्नुको अतिरिक्त, यसले पर्खालको मोटाईमा परिवर्तनहरू पनि पत्ता लगाउँदछ।
यी दुई ET विधिहरू प्रयोग गर्दा विशेष समस्या पर्दैन। यदि उपकरण सुसज्जित छ भने, तिनीहरू एकै पटक परीक्षण कुण्डलको साथ प्रयोग गर्न सकिन्छ।
अन्तमा, परीक्षकको भौतिक स्थान महत्त्वपूर्ण छ। परिवेशको तापक्रम र मिल कम्पन (ट्युबमा प्रसारित) जस्ता विशेषताहरूले प्लेसमेन्टलाई असर गर्न सक्छ। सोल्डर बक्सको नजिक परीक्षण कोइल राख्नाले अपरेटरलाई सोल्डरिङ प्रक्रियाको बारेमा तत्काल जानकारी दिन्छ। यद्यपि, तापमान-प्रतिरोधी सेन्सरहरू वा थप कूलिङ पत्ता लगाउन आवश्यक हुन्छ। आकार वा आकार प्रक्रिया;यद्यपि, त्यहाँ झूटा सकारात्मक हुने सम्भावना धेरै छ किनभने यो स्थानले सेन्सरलाई कट-अफ प्रणालीको नजिक ल्याउँछ, जहाँ यो आरा वा कपाल काट्ने क्रममा कम्पन पत्ता लगाउने सम्भावना बढी हुन्छ।
अल्ट्रासोनिक परीक्षण (UT) ले विद्युतीय उर्जाको पल्स प्रयोग गर्दछ र यसलाई उच्च आवृत्ति ध्वनि उर्जामा रूपान्तरण गर्दछ। यी ध्वनि तरंगहरू पानी वा मिल कूलेन्ट जस्ता मिडिया मार्फत परीक्षण अन्तर्गत सामग्रीमा प्रसारित हुन्छन्। ध्वनि दिशात्मक हुन्छ;सेन्सरको अभिमुखीकरणले प्रणालीले त्रुटिहरू खोजिरहेको छ वा पर्खालको मोटाई मापन गरिरहेको छ भनेर निर्धारण गर्दछ। ट्रान्सड्यूसरहरूको सेटले वेल्ड क्षेत्रको रूपरेखा बनाउन सक्छ। UT विधि ट्यूब पर्खाल मोटाई द्वारा सीमित छैन।
UT प्रक्रियालाई मापन उपकरणको रूपमा प्रयोग गर्न, अपरेटरले ट्रान्सड्यूसरलाई अभिमुख गर्न आवश्यक छ ताकि यो ट्यूबमा लम्ब हुन्छ। ध्वनि तरंगहरू ट्यूबमा OD मा प्रवेश गर्छन्, ID उछाल्छन्, र ट्रान्सड्यूसरमा फर्किन्छन्। प्रणालीले उडानको समय मापन गर्दछ — ध्वनि तरंगलाई OD बाट ID मा यात्रा गर्न लाग्ने समय — र यो मोटोपन मिलाएर भित्ता मापन गर्न मिल्ने समयलाई मापन गर्न मिल्छ। ± ०.००१ इन्चको शुद्धता।
सामग्री दोषहरू पत्ता लगाउन, अपरेटरले ट्रान्सड्यूसरलाई तिरछा कोणमा राख्छ। ध्वनि तरंगहरू OD बाट प्रवेश गर्दछ, ID मा जान्छ, OD मा फिर्ता प्रतिबिम्बित हुन्छ, र पर्खालमा त्यसरी यात्रा गर्दछ। वेल्डिंग अवरोधले ध्वनि तरंगलाई प्रतिबिम्बित गर्दछ;यसले सेन्सरमा फिर्ता उही बाटो लिन्छ, जसले यसलाई विद्युतीय उर्जामा रूपान्तरण गर्दछ र दोषको स्थानलाई संकेत गर्ने भिजुअल डिस्प्ले सिर्जना गर्दछ। सिग्नल पनि दोष गेटबाट जान्छ, जसले या त अपरेटरलाई सूचित गर्न अलार्म ट्रिगर गर्दछ वा दोषको स्थान चिन्ह लगाउने पेन्ट प्रणाली ट्रिगर गर्दछ।
UT प्रणालीहरूले एकल ट्रान्सड्यूसर (वा धेरै एकल क्रिस्टल ट्रान्सड्यूसरहरू) वा चरणबद्ध एरे ट्रान्सड्यूसरहरू प्रयोग गर्न सक्छन्।
परम्परागत UTs ले एक वा धेरै एकल क्रिस्टल ट्रान्सड्यूसरहरू प्रयोग गर्दछ। सेन्सरहरूको संख्या अपेक्षित दोष लम्बाइ, रेखा गति र अन्य परीक्षण आवश्यकताहरूमा निर्भर गर्दछ।
चरणबद्ध एर्रे UTs ले शरीरमा बहु ट्रान्सड्यूसर तत्वहरू प्रयोग गर्दछ। नियन्त्रण प्रणालीले वेल्ड क्षेत्र स्क्यान गर्न ट्रान्सड्यूसर तत्वहरूलाई पुन: स्थान नगरी ध्वनि तरंगहरूलाई इलेक्ट्रोनिक रूपमा नियन्त्रण गर्दछ। प्रणालीले विभिन्न गतिविधिहरू गर्न सक्छ, जस्तै दोषहरू पत्ता लगाउन, पर्खालको मोटाई नाप्ने, र वेल्ड क्षेत्र सफाईमा परिवर्तनहरूको अनुगमन। यी निरीक्षण र मापन मोडहरू प्रदर्शन गर्न सकिन्छ। दृष्टिकोणले केही वेल्डिङ बहावलाई सहन सक्छ किनभने एरेले परम्परागत स्थिर-स्थिति सेन्सरहरू भन्दा ठूलो क्षेत्रलाई कभर गर्न सक्छ।
तेस्रो NDT विधि, चुम्बकीय चुहावट (MFL), ठूलो व्यास, बाक्लो पर्खाल, चुम्बकीय ग्रेड पाइपहरू निरीक्षण गर्न प्रयोग गरिन्छ। यो तेल र ग्यास अनुप्रयोगहरूको लागि आदर्श हो।
MFLs ले एउटा बलियो DC चुम्बकीय क्षेत्र प्रयोग गर्दछ जुन ट्यूब वा ट्यूब पर्खालबाट गुज्रन्छ। चुम्बकीय क्षेत्र बल पूर्ण संतृप्तिमा पुग्छ, वा चुम्बकीय बलमा कुनै पनि वृद्धिले चुम्बकीय प्रवाह घनत्वमा उल्लेखनीय वृद्धि गर्दैन। जब चुम्बकीय क्षेत्र रेखाहरूले सामग्रीमा कुनै दोष देखा पर्छन्, परिणामस्वरूप चुम्बकीय क्षेत्रको सतहबाट eubblex वा eubblex को विकृति हुन सक्छ।
चुम्बकीय क्षेत्रबाट गुज्रिएको साधारण तार-घाउ प्रोबले त्यस्ता बबलहरू पत्ता लगाउन सक्छ। अन्य चुम्बकीय इन्डक्सन अनुप्रयोगहरू जस्तै, प्रणालीलाई परीक्षण अन्तर्गत सामग्री र प्रोब बीचको सापेक्ष गति चाहिन्छ। यो आन्दोलन ट्युब वा पाइपको परिधि वरिपरि चुम्बक र प्रोब एसेम्बली घुमाएर प्राप्त गरिन्छ। प्रशोधन गति बढाउनको लागि, यो सेटअप एकभन्दा बढी arrays (array) को अतिरिक्त सेटअप प्रयोग गर्दछ।
घुमाउने MFL एकाइले अनुदैर्ध्य वा ट्रान्सभर्स दोषहरू पत्ता लगाउन सक्छ। भिन्नताहरू चुम्बकीय संरचना र प्रोब डिजाइनको अभिमुखीकरणमा निहित हुन्छन्। दुवै अवस्थामा, सिग्नल फिल्टरले त्रुटिहरू पत्ता लगाउने र ID र OD स्थानहरू बीचको भेद गर्ने प्रक्रियालाई ह्यान्डल गर्छ।
MFL ET सँग मिल्दोजुल्दो छ र दुई एकअर्काको पूरक हुन्। ET 0.250 इन्च भन्दा कम पर्खाल मोटाई भएका उत्पादनहरूका लागि उपयुक्त छ, जबकि MFL यसभन्दा ठूलो पर्खाल मोटाई भएका उत्पादनहरूका लागि प्रयोग गरिन्छ।
UT मा MFL को एउटा फाइदा भनेको आदर्श भन्दा कम दोषहरू पत्ता लगाउने क्षमता हो। उदाहरणका लागि, MFL ले हेलिकल दोषहरू सजिलै पत्ता लगाउन सक्छ। त्यस्ता तिरछा दिशाहरूमा भएका दोषहरू UT द्वारा पत्ता लगाउन सकिन्छ, तर अपेक्षित कोणका लागि विशेष सेटिङहरू आवश्यक पर्दछ।
यस विषयमा थप जानकारीमा रुचि छ? निर्माता र निर्माता संघ (FMA) सँग थप छ। लेखक फिल मेइन्जिङ्गर र विलियम होफम्यानले यी प्रक्रियाहरूको सिद्धान्त, उपकरण विकल्पहरू, सेटअप र प्रयोगको बारेमा जानकारी र मार्गदर्शनको पूर्ण दिन प्रदान गर्नेछन्। बैठक नोभेम्बर 10 मा FMA को मुख्यालयमा आयोजित भएको थियो। ance.थप जान्नुहोस्।
ट्यूब र पाइप जर्नल 1990 मा धातु पाइप उद्योग सेवा गर्न समर्पित पहिलो पत्रिका बन्यो। आज, यो उद्योग को लागी समर्पित उत्तर अमेरिका मा एक मात्र प्रकाशन बनेको छ र पाइप पेशेवरहरु को लागी जानकारी को सबैभन्दा विश्वसनीय स्रोत भएको छ।
अब The FABRICATOR को डिजिटल संस्करणमा पूर्ण पहुँचको साथ, मूल्यवान उद्योग स्रोतहरूमा सजिलो पहुँच।
The Tube & Pipe Journal को डिजिटल संस्करण अब पूर्ण रूपमा पहुँचयोग्य छ, मूल्यवान उद्योग स्रोतहरूमा सजिलो पहुँच प्रदान गर्दै।
स्ट्याम्पिङ जर्नलको डिजिटल संस्करणमा पूर्ण पहुँचको आनन्द लिनुहोस्, जसले मेटल स्ट्याम्पिङ बजारको लागि नवीनतम प्राविधिक प्रगतिहरू, उत्कृष्ट अभ्यासहरू र उद्योग समाचारहरू प्रदान गर्दछ।
अब The Fabricator en Español को डिजिटल संस्करणमा पूर्ण पहुँचको साथ, मूल्यवान उद्योग स्रोतहरूमा सजिलो पहुँच।