Nature.com ஐப் பார்வையிட்டதற்கு நன்றி.நீங்கள் பயன்படுத்தும் உலாவி பதிப்பில் CSS ஆதரவு குறைவாக உள்ளது.சிறந்த அனுபவத்திற்கு, புதுப்பிக்கப்பட்ட உலாவியைப் பயன்படுத்துமாறு பரிந்துரைக்கிறோம் (அல்லது Internet Explorer இல் இணக்கத்தன்மை பயன்முறையை முடக்கவும்).இதற்கிடையில், தொடர்ந்து ஆதரவை உறுதிப்படுத்த, தளத்தை ஸ்டைல்கள் மற்றும் ஜாவாஸ்கிரிப்ட் இல்லாமல் வழங்குவோம்.
திரவ மாதிரிகளின் சுவடு பகுப்பாய்வு வாழ்க்கை அறிவியல் மற்றும் சுற்றுச்சூழல் கண்காணிப்பில் பரவலான பயன்பாடுகளைக் கொண்டுள்ளது.இந்த வேலையில், உறிஞ்சுதலின் அல்ட்ராசென்சிட்டிவ் நிர்ணயத்திற்காக உலோக அலை வழிகாட்டி நுண்குழாய்களின் (MCCs) அடிப்படையில் ஒரு சிறிய மற்றும் மலிவான ஃபோட்டோமீட்டரை நாங்கள் உருவாக்கியுள்ளோம்.ஒளியியல் பாதையை பெரிதும் அதிகரிக்கலாம், மேலும் MWCயின் இயற்பியல் நீளத்தை விட மிக நீளமாக இருக்கும், ஏனெனில் நெளிவுற்ற மென்மையான உலோக பக்கச்சுவர்களால் சிதறிய ஒளியானது, நிகழ்வுகளின் கோணத்தைப் பொருட்படுத்தாமல் தந்துகிக்குள் இருக்கும்.புதிய நேரியல் அல்லாத ஆப்டிகல் பெருக்கம் மற்றும் வேகமான மாதிரி மாறுதல் மற்றும் குளுக்கோஸ் கண்டறிதல் ஆகியவற்றின் காரணமாக பொதுவான குரோமோஜெனிக் ரியாஜெண்டுகளைப் பயன்படுத்தி 5.12 nM க்கும் குறைவான செறிவுகளை அடைய முடியும்.
ஏராளமான குரோமோஜெனிக் எதிர்வினைகள் மற்றும் செமிகண்டக்டர் ஆப்டோ எலக்ட்ரானிக் சாதனங்கள் 1,2,3,4,5 ஆகியவற்றின் காரணமாக திரவ மாதிரிகளின் சுவடு பகுப்பாய்விற்கு ஃபோட்டோமெட்ரி பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படுகிறது.பாரம்பரிய குவெட் அடிப்படையிலான உறிஞ்சுதல் தீர்மானத்துடன் ஒப்பிடும்போது, ​​திரவ அலை வழிகாட்டி (LWC) நுண்குழாய்கள் நுண்குழாய்களில் உள்ள ஆய்வு ஒளியை வைத்து பிரதிபலிக்கும் (TIR).இருப்பினும், மேலும் மேம்பாடு இல்லாமல், ஆப்டிகல் பாதையானது LWC3.6 இன் இயற்பியல் நீளத்திற்கு அருகில் உள்ளது, மேலும் LWC நீளத்தை 1.0 மீட்டருக்கு அப்பால் அதிகரிப்பது வலுவான ஒளித் தேய்மானம் மற்றும் குமிழ்களின் அதிக ஆபத்து போன்றவற்றால் பாதிக்கப்படும்.
LWCயில் தற்போது இரண்டு முக்கிய வகைகள் உள்ளன, அதாவது டெஃப்ளான் ஏஎஃப் கேபிலரிஸ் (ஒளிவிலகல் குறியீட்டு எண் ~1.3 மட்டுமே உள்ளது, இது தண்ணீரை விட குறைவாக உள்ளது) மற்றும் டெல்ஃபான் ஏஎஃப் அல்லது மெட்டல் ஃபிலிம்கள் 1,3,4 பூசப்பட்ட சிலிக்கா கேபிலரிகள்.மின்கடத்தாப் பொருட்களுக்கு இடையேயான இடைமுகத்தில் TIR அடைய, குறைந்த ஒளிவிலகல் குறியீடு மற்றும் அதிக ஒளி நிகழ்வு கோணங்களைக் கொண்ட பொருட்கள் 3,6,10 தேவை.Teflon AF நுண்குழாய்களைப் பொறுத்தமட்டில், Teflon AF அதன் நுண்துளை அமைப்பு 3,11 காரணமாக சுவாசிக்கக்கூடியது மற்றும் நீர் மாதிரிகளில் உள்ள சிறிய அளவிலான பொருட்களை உறிஞ்சக்கூடியது.டெல்ஃபான் ஏஎஃப் அல்லது உலோகத்துடன் வெளியில் பூசப்பட்ட குவார்ட்ஸ் நுண்குழாய்களுக்கு, குவார்ட்ஸின் ஒளிவிலகல் குறியீடு (1.45) பெரும்பாலான திரவ மாதிரிகளை விட அதிகமாக உள்ளது (எ.கா. 1.33 தண்ணீருக்கு) 3,6,12,13.உள்ளே ஒரு உலோகப் படத்துடன் பூசப்பட்ட நுண்குழாய்களுக்கு, போக்குவரத்து பண்புகள் 14,15,16,17,18 ஆய்வு செய்யப்பட்டுள்ளன, ஆனால் பூச்சு செயல்முறை சிக்கலானது, உலோகப் படத்தின் மேற்பரப்பு தோராயமான மற்றும் நுண்ணிய அமைப்பைக் கொண்டுள்ளது.
கூடுதலாக, வணிக ரீதியான LWCகள் (AF டெஃப்ளான் கோடட் கேபிலரீஸ் மற்றும் AF டெல்ஃபான் கோடட் சிலிக்கா கேபிலரிஸ், வேர்ல்ட் பிரசிஷன் இன்ஸ்ட்ரூமென்ட்ஸ், இன்க்.) மற்ற சில குறைபாடுகளைக் கொண்டுள்ளன, அவை: தவறுகளுக்கு..TIR3,10, (2) T-கனெக்டரின் பெரிய டெட் வால்யூம் (கேபிலரிகள், ஃபைபர்கள் மற்றும் இன்லெட்/அவுட்லெட் டியூப்களை இணைக்க) காற்று குமிழ்களை சிக்க வைக்கும்10.
அதே நேரத்தில், நீரிழிவு நோய், கல்லீரல் ஈரல் அழற்சி மற்றும் மனநோய் ஆகியவற்றைக் கண்டறிவதில் குளுக்கோஸ் அளவை தீர்மானிப்பது மிகவும் முக்கியமானது.மற்றும் ஃபோட்டோமெட்ரி போன்ற பல கண்டறிதல் முறைகள் (ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரி 21, 22, 23, 24, 25 மற்றும் பேப்பர் 26, 27, 28 இல் வண்ண அளவீடு உட்பட), கால்வனோமெட்ரி 29, 30, 31, ஃப்ளோரோமெட்ரி 32, 33, 33, 3 போலரிமெட் ரிஸன் சர்ஃபேஸ் 34,37, ஃபேப்ரி-பெரோட் குழி 38, எலக்ட்ரோ கெமிஸ்ட்ரி 39 மற்றும் கேபிலரி எலக்ட்ரோபோரேசிஸ் 40,41 மற்றும் பல.இருப்பினும், இந்த முறைகளில் பெரும்பாலானவற்றிற்கு விலையுயர்ந்த உபகரணங்கள் தேவைப்படுகின்றன, மேலும் பல நானோமொலார் செறிவுகளில் குளுக்கோஸைக் கண்டறிவது ஒரு சவாலாகவே உள்ளது (உதாரணமாக, ஃபோட்டோமெட்ரிக் அளவீடுகளுக்கு21, 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, குளுக்கோஸின் குறைந்த செறிவு).ப்ருஷியன் நீல நானோ துகள்கள் பெராக்ஸிடேஸ் மிமிக்ஸாகப் பயன்படுத்தப்பட்டபோது வரம்பு 30 nM மட்டுமே.மனித ப்ரோஸ்டேட் புற்றுநோய் வளர்ச்சியைத் தடுப்பது மற்றும் கடலில் உள்ள ப்ரோக்ளோரோகோகஸின் CO2 நிலைப்படுத்தல் நடத்தை போன்ற மூலக்கூறு அளவிலான செல்லுலார் ஆய்வுகளுக்கு நானோமொலார் குளுக்கோஸ் பகுப்பாய்வுகள் பெரும்பாலும் தேவைப்படுகின்றன.
இந்த கட்டுரையில், ஒரு உலோக அலை வழிகாட்டி தந்துகி (MWC) அடிப்படையிலான ஒரு சிறிய, விலையுயர்ந்த ஃபோட்டோமீட்டர், ஒரு SUS316L துருப்பிடிக்காத எஃகு தந்துகி, எலக்ட்ரோபாலிஷ் செய்யப்பட்ட உள் மேற்பரப்புடன், அல்ட்ராசென்சிட்டிவ் உறிஞ்சுதல் தீர்மானத்திற்காக உருவாக்கப்பட்டது.நிகழ்வுகளின் கோணத்தைப் பொருட்படுத்தாமல் உலோகத் நுண்குழாய்களுக்குள் ஒளி சிக்கிக் கொள்ளப்படுவதால், ஒளியியல் பாதையானது நெளி மற்றும் மென்மையான உலோகப் பரப்புகளில் ஒளிச் சிதறல்களால் பெரிதும் அதிகரிக்கப்படலாம், மேலும் இது MWC இன் இயற்பியல் நீளத்தை விட மிக நீளமானது.கூடுதலாக, ஒரு எளிய டி-கனெக்டர் ஆப்டிகல் இணைப்பு மற்றும் திரவ நுழைவாயில்/வெளியீட்டிற்காக டெட் வால்யூமைக் குறைக்க மற்றும் குமிழி பொறியைத் தவிர்க்க வடிவமைக்கப்பட்டுள்ளது.7 செ.மீ MWC போட்டோமீட்டருக்கு, லீனியர் அல்லாத ஆப்டிகல் பாதையின் புதிய மேம்பாடு மற்றும் வேகமான மாதிரி மாறுதல் ஆகியவற்றின் காரணமாக 1 செ.மீ குவெட்டுடன் கூடிய வணிக நிறமாலை ஒளிமானியுடன் ஒப்பிடும்போது கண்டறிதல் வரம்பு சுமார் 3000 மடங்கு மேம்படுத்தப்பட்டுள்ளது, மேலும் குளுக்கோஸ் கண்டறிதல் செறிவையும் அடைய முடியும்.5.12 nM மட்டுமே பொதுவான குரோமோஜெனிக் எதிர்வினைகளைப் பயன்படுத்துகிறது.
படம் 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டரில் 7 செமீ நீளமுள்ள MWC, EP கிரேடு எலக்ட்ரோபாலிஷ் செய்யப்பட்ட உள் மேற்பரப்பு, லென்ஸுடன் கூடிய 505 nm LED, ஒரு அனுசரிப்பு ஆதாய ஃபோட்டோடெக்டர் மற்றும் இரண்டு ஆப்டிகல் இணைப்பு மற்றும் திரவ உள்ளீடு ஆகியவற்றைக் கொண்டுள்ளது.வெளியேறு.பைக் இன்லெட் குழாயுடன் இணைக்கப்பட்ட மூன்று வழி வால்வு உள்வரும் மாதிரியை மாற்ற பயன்படுகிறது.பீக் குழாய் குவார்ட்ஸ் தகடு மற்றும் MWC க்கு எதிராக இறுக்கமாக பொருந்துகிறது, எனவே டி-கனெக்டரில் உள்ள டெட் வால்யூம் குறைந்தபட்சமாக வைக்கப்படுகிறது, இது காற்று குமிழ்கள் சிக்காமல் தடுக்கிறது.கூடுதலாக, டி-பீஸ் குவார்ட்ஸ் தகடு மூலம் கோலிமேட்டட் பீம் எளிதாகவும் திறமையாகவும் MWC இல் அறிமுகப்படுத்தப்படலாம்.
பீம் மற்றும் திரவ மாதிரி ஒரு டி-பீஸ் மூலம் எம்.சி.சிக்குள் அறிமுகப்படுத்தப்படுகிறது, மேலும் எம்.சி.சி வழியாக செல்லும் பீம் ஒரு ஃபோட்டோடெக்டரால் பெறப்படுகிறது.கறை படிந்த அல்லது வெற்று மாதிரிகளின் உள்வரும் தீர்வுகள் மூன்று வழி வால்வு மூலம் ICC இல் மாறி மாறி அறிமுகப்படுத்தப்பட்டன.பீர் விதியின்படி, வண்ண மாதிரியின் ஒளியியல் அடர்த்தியை சமன்பாட்டிலிருந்து கணக்கிடலாம்.1.10
Vcolor மற்றும் Vblank ஆகியவை முறையே MCC யில் கலர் மற்றும் வெற்று மாதிரிகள் அறிமுகப்படுத்தப்படும் போது ஃபோட்டோடெக்டரின் அவுட்புட் சிக்னல்களாகும், மேலும் LED அணைக்கப்படும் போது Vdark என்பது போட்டோடெக்டரின் பின்னணி சமிக்ஞையாகும்.வெளியீட்டு சமிக்ஞை ΔV = Vcolor-Vblank இன் மாற்றத்தை மாதிரிகளை மாற்றுவதன் மூலம் அளவிட முடியும்.சமன்பாட்டின் படி.படம் 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, Vblank-Vdark ஐ விட ΔV மிகவும் சிறியதாக இருந்தால், ஒரு மாதிரி மாறுதல் திட்டத்தைப் பயன்படுத்தும் போது, ​​Vblank இல் சிறிய மாற்றங்கள் (எ.கா. drift) AMWC மதிப்பில் சிறிய தாக்கத்தை ஏற்படுத்தும்.
MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டரின் செயல்திறனை குவெட்-அடிப்படையிலான ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமீட்டருடன் ஒப்பிட, சிவப்பு மை கரைசல் அதன் சிறந்த வண்ண நிலைத்தன்மை மற்றும் நல்ல செறிவு-உறிஞ்சும் நேர்கோட்டுத்தன்மையின் காரணமாக வண்ண மாதிரியாகப் பயன்படுத்தப்பட்டது, DI H2O ஒரு வெற்று மாதிரி..அட்டவணை 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, DI H2O ஐ கரைப்பானாகப் பயன்படுத்தி தொடர் நீர்த்த முறை மூலம் சிவப்பு மை தீர்வுகளின் தொடர் தயாரிக்கப்பட்டது.மாதிரி 1 (S1), கரைக்கப்படாத அசல் சிவப்பு வண்ணப்பூச்சின் ஒப்பீட்டு செறிவு 1.0 என தீர்மானிக்கப்பட்டது.அத்திப்பழத்தில்.படம் 2, 8.0 × 10-3 (இடது) முதல் 8.2 × 10-10 (வலது) வரை தொடர்புடைய செறிவுகளுடன் (அட்டவணை 1 இல் பட்டியலிடப்பட்டுள்ளது) 11 சிவப்பு மை மாதிரிகளின் (S4 முதல் S14 வரை) ஒளியியல் புகைப்படங்களைக் காட்டுகிறது.
மாதிரி 6 க்கான அளவீட்டு முடிவுகள் படம் காட்டப்பட்டுள்ளன.3(அ)கறை படிந்த மற்றும் வெற்று மாதிரிகளுக்கு இடையில் மாறுவதற்கான புள்ளிகள் "↔" என்ற இரட்டை அம்புகளால் படத்தில் குறிக்கப்பட்டுள்ளன.வண்ண மாதிரிகளிலிருந்து வெற்று மாதிரிகள் மற்றும் நேர்மாறாக மாறும்போது வெளியீட்டு மின்னழுத்தம் வேகமாக அதிகரிப்பதைக் காணலாம்.படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி Vcolor, Vblank மற்றும் தொடர்புடைய ΔV ஆகியவற்றைப் பெறலாம்.
(அ) ​​MWC-அடிப்படையிலான போட்டோமீட்டரைப் பயன்படுத்தி மாதிரி 6, (b) மாதிரி 9, (c) மாதிரி 13, மற்றும் (d) மாதிரி 14 க்கான அளவீட்டு முடிவுகள்.
மாதிரிகள் 9, 13 மற்றும் 14 க்கான அளவீட்டு முடிவுகள் படம் காட்டப்பட்டுள்ளன.3(b)-(d), முறையே.படம் 3(d) இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, அளவிடப்பட்ட ΔV என்பது 5 nV மட்டுமே ஆகும், இது இரைச்சல் மதிப்பை விட கிட்டத்தட்ட 3 மடங்கு அதிகமாகும் (2 nV).ஒரு சிறிய ΔV சத்தத்திலிருந்து வேறுபடுத்துவது கடினம்.இவ்வாறு, கண்டறிதல் வரம்பு 8.2×10-10 (மாதிரி 14) என்ற ஒப்பீட்டு செறிவை எட்டியது.சமன்பாடுகளின் உதவியுடன்.1. AMWC உறிஞ்சுதலை அளவிடப்பட்ட Vcolor, Vblank மற்றும் Vdark மதிப்புகளிலிருந்து கணக்கிடலாம்.104 Vdark இன் ஆதாயத்துடன் கூடிய ஃபோட்டோடெக்டருக்கு -0.68 μV ஆகும்.அனைத்து மாதிரிகளுக்கான அளவீட்டு முடிவுகள் அட்டவணை 1 இல் சுருக்கப்பட்டுள்ளன மற்றும் துணைப் பொருளில் காணலாம்.அட்டவணை 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, அதிக செறிவுகளில் உறிஞ்சுதல் செறிவூட்டுகிறது, எனவே 3.7 க்கும் மேலான உறிஞ்சுதலை MWC-அடிப்படையிலான ஸ்பெக்ட்ரோமீட்டர்கள் மூலம் அளவிட முடியாது.
ஒப்பிடுகையில், ஒரு சிவப்பு மை மாதிரியும் ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமீட்டரால் அளவிடப்பட்டது மற்றும் அளவிடப்பட்ட அக்குவெட் உறிஞ்சுதல் படம் 4 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது. 505 nm இல் உள்ள Acuvette மதிப்புகள் (அட்டவணை 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது) மாதிரிகள் 10, 11 அல்லது 12 (இன்செட்டில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி) வளைவுகளைக் குறிப்பிடுவதன் மூலம் பெறப்பட்டது.படம் 4) அடிப்படையாக.காட்டப்பட்டுள்ளபடி, கண்டறிதல் வரம்பு 2.56 x 10-6 (மாதிரி 9) என்ற ஒப்பீட்டு செறிவை எட்டியது, ஏனெனில் 10, 11 மற்றும் 12 மாதிரிகளின் உறிஞ்சுதல் வளைவுகள் ஒன்றுக்கொன்று பிரித்தறிய முடியாதவை.எனவே, MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டரைப் பயன்படுத்தும் போது, ​​குவெட் அடிப்படையிலான ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமீட்டருடன் ஒப்பிடும்போது கண்டறிதல் வரம்பு 3125 காரணிகளால் மேம்படுத்தப்பட்டது.
சார்பு உறிஞ்சுதல்-செறிவு படம் 5 இல் வழங்கப்படுகிறது.குவெட் அளவீடுகளுக்கு, உறிஞ்சுதல் 1 செமீ நீளமுள்ள மை செறிவுக்கு விகிதாசாரமாகும்.அதேசமயம், MWC அடிப்படையிலான அளவீடுகளுக்கு, குறைந்த செறிவுகளில் உறிஞ்சுதலில் நேரியல் அல்லாத அதிகரிப்பு காணப்பட்டது.பீரின் சட்டத்தின்படி, உறிஞ்சுதல் என்பது ஆப்டிகல் பாதை நீளத்திற்கு விகிதாசாரமாகும், எனவே உறிஞ்சுதல் ஆதாயம் AEF (அதே மை செறிவில் AEF = AMWC/Acuvette என வரையறுக்கப்படுகிறது) என்பது குவெட்டின் ஆப்டிகல் பாதை நீளத்திற்கு MWCயின் விகிதமாகும்.படம் 5 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, அதிக செறிவுகளில், நிலையான AEF சுமார் 7.0 ஆகும், MWCயின் நீளம் 1 செமீ குவெட்டின் நீளத்தை விட சரியாக 7 மடங்கு அதிகமாக இருப்பதால் இது நியாயமானது. இருப்பினும், குறைந்த செறிவுகளில் (தொடர்புடைய செறிவு <1.28 × 10-5 ), AEF செறிவு குறைவதால் அதிகரிக்கிறது மற்றும் 8.2 × 10-10 என்ற தொடர்புடைய செறிவில் 803 மதிப்பை குவெட் அடிப்படையிலான அளவீட்டின் வளைவை விரிவுபடுத்துவதன் மூலம் அடையும். இருப்பினும், குறைந்த செறிவுகளில் (தொடர்புடைய செறிவு <1.28 × 10-5 ), AEF செறிவு குறைவதால் அதிகரிக்கிறது மற்றும் 8.2 × 10-10 என்ற தொடர்புடைய செறிவில் 803 மதிப்பை குவெட் அடிப்படையிலான அளவீட்டின் வளைவை விரிவுபடுத்துவதன் மூலம் அடையும். அட்னாகோ ப்ரி நிஸ்கிக் கோன்ட்ராசியம் (ஒட்னோசிட்டல் கொன்சென்ட்ராசியம் <1,28 × 10–5) ஏஇஎஃப் ஆய்வுகள் மற்றும் MOJET TOSTIGAT SONACHENIA 803 ப்ரி ஒட்னோசிட்டெல்னோய் கான்சென்ட்ரசிகள் 8,2 × 10-10 ப்ரி எக்ஸ்ட்ராபோலியாசிகள் இரண்டு. இருப்பினும், குறைந்த செறிவுகளில் (ஒப்பீட்டு செறிவு <1.28 × 10-5), AEF செறிவு குறைவதால் அதிகரிக்கிறது மற்றும் 803 மதிப்பை 8.2 × 10-10 என்ற ஒப்பீட்டு செறிவில் ஒரு குவெட் அடிப்படையிலான அளவீட்டு வளைவில் இருந்து விரிவாக்கும் போது அடையலாம்.然而，在低浓度（相关浓度<1.28 × 10-5皿的测量曲线，在相关浓度为8.2 × 10-10 时将达到803 的值。然而 ， 在 低 （（相关 <1.28 × 10-5） ， aef 随着 的 而 ， 通过 基于 色皿 测量 曲线 ， 在 浓度 8.2 × 10-10 时 达到 达到 达到 达到 达到 达到 达到 达到 达到 达到 达到 80 அட்னாகோ ப்ரி நிஸ்கிக் கோன்ட்ராசியஹ் (ரெலவன்ட்னி கான்ட்ராசியஸ் < 1,28 × 10-5) மற்றும், மற்றும் ப்ரி எக்ஸ்ட்ராபோலியாசிஸ் கிரிவொய் இஸ்மரேனிய ஆஸ்னோவே கிவெட்டிகள் ஓனா டாஸ்டிகேட் ஜானசெனியா ஒட்னோசிட்டல்-801020 03 . இருப்பினும், குறைந்த செறிவுகளில் (தொடர்புடைய செறிவுகள் <1.28 × 10-5) AED செறிவு குறைவதால் அதிகரிக்கிறது, மேலும் ஒரு குவெட் அடிப்படையிலான அளவீட்டு வளைவிலிருந்து விரிவுபடுத்தப்படும் போது, ​​அது 8.2 × 10-10 803 என்ற ஒப்பீட்டு செறிவு மதிப்பை அடைகிறது.இதன் விளைவாக 803 செமீ (AEF × 1 செமீ) ஆப்டிகல் பாதை உள்ளது, இது MWC இன் இயற்பியல் நீளத்தை விட மிக நீளமானது, மேலும் வணிக ரீதியாக கிடைக்கக்கூடிய மிக நீளமான LWC ஐ விட நீளமானது (World Precision Instruments, Inc. இலிருந்து 500 செ.மீ.).டோகோ இன்ஜினியரிங் எல்எல்சி 200 செமீ நீளம் கொண்டது).LWC இல் உறிஞ்சுதலின் இந்த நேரியல் அல்லாத அதிகரிப்பு முன்னர் தெரிவிக்கப்படவில்லை.
அத்திப்பழத்தில்.6(a)-(c) முறையே MWC பிரிவின் உள் மேற்பரப்பின் ஆப்டிகல் படம், ஒரு நுண்ணோக்கி படம் மற்றும் ஆப்டிகல் ப்ரொஃபைலர் படம் ஆகியவற்றைக் காட்டுகிறது.படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி.6(a), உள் மேற்பரப்பு மென்மையானது மற்றும் பளபளப்பானது, புலப்படும் ஒளியை பிரதிபலிக்கும் மற்றும் அதிக பிரதிபலிப்பு கொண்டது.படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி.6(b), உலோகத்தின் சிதைவு மற்றும் படிக தன்மை காரணமாக, சிறிய மெஸ் மற்றும் முறைகேடுகள் மென்மையான மேற்பரப்பில் தோன்றும். சிறிய பகுதியின் பார்வையில் (<5 μm×5 μm), பெரும்பாலான மேற்பரப்பின் கடினத்தன்மை 1.2 nm க்கும் குறைவாக உள்ளது (படம் 6(c)). ஒரு சிறிய பகுதியின் பார்வையில் (<5 μm×5 μm), பெரும்பாலான மேற்பரப்பின் கடினத்தன்மை 1.2 nm க்கும் குறைவாக உள்ளது (படம் 6(c)). Ввиду малой площади (<5 மி.க. × 5 மி.க.) சிறிய பகுதியின் காரணமாக (<5 µm×5 µm), பெரும்பாலான மேற்பரப்பின் கடினத்தன்மை 1.2 nm க்கும் குறைவாக உள்ளது (படம் 6(c)).考虑到小面积（<5 μm×5 μm），大多数表面的粗糙度小于1.2 nm（图6（c））。考虑到小面积（<5 μm×5 μm），大多数表面的粗糙度小于1.2 nm（图6（c））。 Учитывая небольшую площадь (<5 மி.க. × 5 மி.க.), ஷிரோஹோவடோஸ்ட் большинства поверхностей составлем. ) சிறிய பகுதியைக் கருத்தில் கொண்டு (<5 µm × 5 µm), பெரும்பாலான மேற்பரப்புகளின் கடினத்தன்மை 1.2 nm க்கும் குறைவாக உள்ளது (படம் 6(c)).
(அ) ​​ஆப்டிகல் படம், (ஆ) நுண்ணோக்கி படம் மற்றும் (இ) MWC வெட்டு உள் மேற்பரப்பின் ஆப்டிகல் படம்.
படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி.7(a), தந்துகியில் உள்ள ஒளியியல் பாதை LOP நிகழ்வுகளின் கோணத்தால் தீர்மானிக்கப்படுகிறது θ (LOP = LC/sinθ, LC என்பது தந்துகியின் இயற்பியல் நீளம்).DI H2O நிரப்பப்பட்ட Teflon AF நுண்குழாய்களில், நிகழ்வுகளின் கோணம் 77.8° முக்கிய கோணத்தை விட அதிகமாக இருக்க வேண்டும், எனவே LOP மேலும் மேம்பாடு இல்லாமல் 1.02 × LC க்கும் குறைவாக உள்ளது3.6.அதேசமயம், MWC உடன், தந்துகிக்குள் ஒளியின் அடைப்பு ஒளிவிலகல் குறியீடு அல்லது நிகழ்வுகளின் கோணத்தில் இருந்து சுயாதீனமாக இருக்கும், எனவே நிகழ்வின் கோணம் குறையும் போது, ​​ஒளி பாதை தந்துகியின் நீளத்தை விட மிக நீளமாக இருக்கும் (LOP »LC).படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி.7(b), நெளி உலோக மேற்பரப்பு ஒளி சிதறலை தூண்டலாம், இது ஆப்டிகல் பாதையை பெரிதும் அதிகரிக்கும்.
எனவே, MWCக்கு இரண்டு ஒளிப் பாதைகள் உள்ளன: பிரதிபலிப்பு இல்லாத நேரடி ஒளி (LOP = LC) மற்றும் பக்கவாட்டுச் சுவர்களுக்கு இடையே பல பிரதிபலிப்புகளைக் கொண்ட மரத்தூள் ஒளி (LOP »LC).பீரின் சட்டத்தின்படி, கடத்தப்படும் நேரடி மற்றும் ஜிக்ஜாக் ஒளியின் தீவிரத்தை முறையே PS×exp(-α×LC) மற்றும் PZ×exp(-α×LOP) என வெளிப்படுத்தலாம், இங்கு மாறிலி α என்பது உறிஞ்சுதல் குணகம், இது முற்றிலும் மை செறிவைப் பொறுத்தது.
அதிக செறிவு மைக்கு (எ.கா., தொடர்புடைய செறிவு>1.28 × 10-5), ஜிக்ஜாக்-ஒளி அதிக அளவில் தணிக்கப்படுகிறது மற்றும் அதன் தீவிரம் நேரான-ஒளியை விட மிகக் குறைவாக உள்ளது, பெரிய உறிஞ்சுதல்-குணம் மற்றும் அதன் மிக நீண்ட ஒளியியல் பாதை காரணமாக. அதிக செறிவு மைக்கு (எ.கா., தொடர்புடைய செறிவு>1.28 × 10-5), ஜிக்ஜாக்-ஒளி அதிகக் கவனக்குறைவாக உள்ளது மற்றும் அதன் தீவிரம் நேரான-ஒளியை விட மிகக் குறைவாக உள்ளது, பெரிய உறிஞ்சுதல்-குணம் மற்றும் அதன் மிக நீண்ட ஒளியியல் பாதை காரணமாக. டெல்யா செர்னிலிலிருந்து வைசோகோய் கான்ட்ராசியன் (அதிகாரி, ஒட்னோசிட்டல் கோன்சேன்ட்ராசியம் >1,28 × 10-5) ஜிப்சகோட் ஏத், அ எகோ இன்டென்சிவ்னோஸ்ட் நாமனோகோ நிஜே, செம் யூ பிரயமோகோ ஸ்வேதா, இஸ்-ஸா போல்ஷியோகோ கோஃபிஃபிட் போஜனதா ного оптического излучения. அதிக செறிவு மைக்கு (எ.கா. ஒப்பீட்டு செறிவு>1.28×10-5), ஜிக்ஜாக் ஒளி வலுவாகத் தணிக்கப்படுகிறது மற்றும் பெரிய உறிஞ்சுதல் குணகம் மற்றும் மிக நீண்ட ஒளியியல் உமிழ்வு காரணமாக அதன் தீவிரம் நேரடி ஒளியை விட மிகக் குறைவாக உள்ளது.தடம்.மேலும்收系数大，光学时间更长。对于 高浓度 墨水 （ உதாரணமாக这 是 吸收 系数 大 光学 时间 更。。。டெல்யா செர்னில் ஸ் வைசோகோய் கோன்சென்ட்ராசியே (அதிகாரி, ரெலெவன்ட்னி கான்சென்ட்ராசி >1,28×10-5) ஜிக்சகோப்ட் ப்ளேட்சியா, மற்றும் எகோ இன்டென்சிவ்னோஸ்ட் பெயர் நிஜே, செம் யு பிரயமோகோ ஸ்வேதா இஸ்-ஸா போல்ஷோகோ கோபிஃபுல்ட்ஜின்டா ого оптического времени. அதிக செறிவு மைகளுக்கு (எ.கா., தொடர்புடைய செறிவுகள் >1.28×10-5), ஜிக்ஜாக் ஒளி குறிப்பிடத்தக்க அளவில் தணிக்கப்படுகிறது மற்றும் பெரிய உறிஞ்சுதல் குணகம் மற்றும் நீண்ட ஒளியியல் நேரம் காரணமாக அதன் தீவிரம் நேரடி ஒளியை விட மிகக் குறைவாக உள்ளது.சிறிய சாலை.எனவே, நேரடி ஒளி உறிஞ்சுதல் தீர்மானத்தில் ஆதிக்கம் செலுத்தியது (LOP=LC) மற்றும் AEF ஆனது ~7.0 இல் நிலையானதாக இருந்தது. இதற்கு நேர்மாறாக, உறிஞ்சும் குணகம் குறையும் போது மை செறிவு குறையும் போது (எ.கா. தொடர்புடைய செறிவு <1.28 × 10-5), ஜிக்ஜாக்-ஒளியின் தீவிரம் நேரான-ஒளியை விட வேகமாக அதிகரிக்கிறது, பின்னர் ஜிக்ஜாக்-ஒளி மிக முக்கியமான பாத்திரத்தை வகிக்கத் தொடங்குகிறது. இதற்கு நேர்மாறாக, உறிஞ்சும் குணகம் குறையும் போது மை செறிவு குறையும் போது (எ.கா. தொடர்புடைய செறிவு <1.28 × 10-5), ஜிக்ஜாக்-ஒளியின் தீவிரம் நேரான-ஒளியை விட வேகமாக அதிகரிக்கிறது, பின்னர் ஜிக்ஜாக்-ஒளி மிக முக்கியமான பாத்திரத்தை வகிக்கத் தொடங்குகிறது. நப்ரோட்டிவ், கோக்டா கோஃப்ஃபிசியன்ட் போக்லோஷெனியா உமென்ஷெட்சியா மற்றும் யூமெனிஷெனிம் கோன்சென்ட்ராச்சின் செர்னிம்கள் எண்ட்ராசியம் <1,28 × 10-5), இன்டென்ஸ்ஸிவ்னோஸ்த் ть зигзагообразный свет. மாறாக, மை செறிவு குறைவதால் உறிஞ்சுதல் குணகம் குறையும் போது (உதாரணமாக, ஒப்பீட்டு செறிவு <1.28×10-5), ஜிக்ஜாக் ஒளியின் தீவிரம் நேரடி ஒளியை விட வேகமாக அதிகரிக்கிறது, பின்னர் ஜிக்ஜாக் ஒளி விளையாடத் தொடங்குகிறது.மேலும் முக்கிய பங்கு.பார்直光增加得更快，然后Z字形光开始发挥作用一个更重要的角色。相反 , 当 吸收 系数 随着 墨水字个更 更 更 HI的角色。 நான் நாபோரோட், கோக்டா கோஃப்ஃபிசியன்ட் போக்லோஷெனியா உமெனிஷேட்சியா மற்றும் யூமெனிஷெனிம் கோன்ஷென்ட்ரவேஷன்ஸ், பெர்னிவ்ஸ் கோன்சென்ட்ராசியம் <1,28×10-5), интенсивность зигзагообразного ஸ்வேட்டா உவேலிச்சீவரெட்ஸ்யா ப்ரிஸ்ட்ரே, மேம்போர்க் й свет начинает играть более важную роль. மாறாக, மை செறிவு குறைவதால் உறிஞ்சுதல் குணகம் குறையும் போது (உதாரணமாக, தொடர்புடைய செறிவு <1.28×10-5), ஜிக்ஜாக் ஒளியின் தீவிரம் நேரடி ஒளியை விட வேகமாக அதிகரிக்கிறது, பின்னர் ஜிக்ஜாக் ஒளி மிக முக்கியமான பாத்திரத்தை வகிக்கத் தொடங்குகிறது.பாத்திர பாத்திரம்.எனவே, sawtooth ஆப்டிகல் பாதை (LOP »LC) காரணமாக, AEF ஐ 7.0 ஐ விட அதிகமாக அதிகரிக்க முடியும்.MWC இன் துல்லியமான ஒளி பரிமாற்ற பண்புகளை அலை வழிகாட்டி முறை கோட்பாட்டைப் பயன்படுத்தி பெறலாம்.
ஆப்டிகல் பாதையை மேம்படுத்துவதோடு, வேகமான மாதிரி மாறுதலும் மிகக் குறைந்த கண்டறிதல் வரம்புகளுக்கு பங்களிக்கிறது.MCC இன் சிறிய அளவு (0.16 மில்லி) காரணமாக, MCC இல் தீர்வுகளை மாற்றுவதற்கும் மாற்றுவதற்கும் தேவைப்படும் நேரம் 20 வினாடிகளுக்கும் குறைவாக இருக்கும்.படம் 5 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, AMWC இன் குறைந்தபட்ச கண்டறியக்கூடிய மதிப்பு (2.5 × 10-4) Acuvette (1.0 × 10-3) ஐ விட 4 மடங்கு குறைவாக உள்ளது.தந்துகியில் பாயும் கரைசலை வேகமாக மாற்றுவது, குவெட்டில் உள்ள தக்கவைப்பு கரைசலுடன் ஒப்பிடும்போது உறிஞ்சும் வேறுபாட்டின் துல்லியத்தில் கணினி இரைச்சல் (எ.கா. சறுக்கல்) விளைவைக் குறைக்கிறது.உதாரணமாக, படம் காட்டப்பட்டுள்ளது.3(b)-(d), சிறிய அளவு தந்துகியில் வேகமாக மாதிரி மாறுவதால், ΔV ஒரு சறுக்கல் சமிக்ஞையிலிருந்து எளிதாக வேறுபடுத்திக் கொள்ள முடியும்.
அட்டவணை 2 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, பல்வேறு செறிவுகளில் குளுக்கோஸ் கரைசல்கள் DI H2O ஐ கரைப்பானாகப் பயன்படுத்தி தயாரிக்கப்பட்டன.முறையே 3:1 என்ற நிலையான அளவு விகிதத்தில் குளுக்கோஸ் ஆக்சிடேஸ் (ஜிஓடி) மற்றும் பெராக்ஸிடேஸ் (பிஓடி) 37 ஆகியவற்றின் குரோமோஜெனிக் கரைசல்களுடன் குளுக்கோஸ் கரைசல் அல்லது டீயோனைஸ்டு நீர் கலந்து படிந்த அல்லது வெற்று மாதிரிகள் தயாரிக்கப்பட்டன.அத்திப்பழத்தில்.2.0 mM (இடது) முதல் 5.12 nM (வலது) வரையிலான குளுக்கோஸ் செறிவுகளுடன் ஒன்பது படிந்த மாதிரிகளின் (S2-S10) ஒளியியல் புகைப்படங்களை 8 காட்டுகிறது.குளுக்கோஸ் செறிவு குறைவதால் சிவத்தல் குறைகிறது.
MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டருடன் மாதிரிகள் 4, 9 மற்றும் 10 ஆகியவற்றின் அளவீடுகளின் முடிவுகள் படம் காட்டப்பட்டுள்ளன.9(a)-(c), முறையே.படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி.9(c), GOD-POD மறுஉருவாக்கத்தின் நிறம் (குளுக்கோஸைச் சேர்க்காமல் கூட) ஒளியில் மெதுவாக மாறுவதால், அளவிடப்பட்ட ΔV குறைவாக நிலையாகி, அளவீட்டின் போது மெதுவாக அதிகரிக்கிறது.எனவே, 5.12 nM (மாதிரி 10) க்கும் குறைவான குளுக்கோஸ் செறிவு கொண்ட மாதிரிகளுக்கு தொடர்ச்சியான ΔV அளவீடுகளை மீண்டும் செய்ய முடியாது, ஏனெனில் ΔV போதுமான அளவு சிறியதாக இருக்கும்போது, ​​GOD-POD மறுஉருவாக்கத்தின் உறுதியற்ற தன்மையை இனி புறக்கணிக்க முடியாது.எனவே, குளுக்கோஸ் கரைசலை கண்டறிவதற்கான வரம்பு 5.12 nM ஆகும், இருப்பினும் தொடர்புடைய ΔV மதிப்பு (0.52 µV) இரைச்சல் மதிப்பை (0.03 µV) விட அதிகமாக உள்ளது, இது ஒரு சிறிய ΔV ஐ இன்னும் கண்டறிய முடியும் என்பதைக் குறிக்கிறது.இந்த கண்டறிதல் வரம்பை இன்னும் நிலையான குரோமோஜெனிக் எதிர்வினைகளைப் பயன்படுத்தி மேலும் மேம்படுத்தலாம்.
(அ) ​​MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டரைப் பயன்படுத்தி மாதிரி 4, (b) மாதிரி 9 மற்றும் (c) மாதிரி 10 க்கான அளவீட்டு முடிவுகள்.
AMWC உறிஞ்சுதலை அளவிடப்பட்ட Vcolor, Vblank மற்றும் Vdark மதிப்புகளைப் பயன்படுத்தி கணக்கிடலாம்.105 Vdark இன் ஆதாயத்துடன் கூடிய ஃபோட்டோடெக்டருக்கு -0.068 μV ஆகும்.அனைத்து மாதிரிகளுக்கான அளவீடுகளையும் துணைப் பொருளில் அமைக்கலாம்.ஒப்பிடுகையில், குளுக்கோஸ் மாதிரிகள் ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமீட்டரைக் கொண்டு அளவிடப்பட்டன மற்றும் அக்குவெட்டின் அளவிடப்பட்ட உறிஞ்சுதல் படம் 10 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி 0.64 µM (மாதிரி 7) கண்டறிதல் வரம்பை எட்டியது.
உறிஞ்சுதல் மற்றும் செறிவு ஆகியவற்றுக்கு இடையேயான தொடர்பு படம் 11 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது. MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டர் மூலம், குவெட் அடிப்படையிலான ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமீட்டருடன் ஒப்பிடும்போது கண்டறிதல் வரம்பில் 125 மடங்கு முன்னேற்றம் அடையப்பட்டது.GOD-POD மறுஉருவாக்கத்தின் மோசமான நிலைத்தன்மையின் காரணமாக இந்த முன்னேற்றம் சிவப்பு மை மதிப்பீட்டை விட குறைவாக உள்ளது.குறைந்த செறிவுகளில் உறிஞ்சுதலில் நேரியல் அல்லாத அதிகரிப்பு காணப்பட்டது.
MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டர் திரவ மாதிரிகளின் தீவிர உணர்திறன் கண்டறிதலுக்காக உருவாக்கப்பட்டுள்ளது.ஒளியியல் பாதையை பெரிதும் அதிகரிக்கலாம், மேலும் MWCயின் இயற்பியல் நீளத்தை விட மிக நீளமாக இருக்கும், ஏனெனில் நெளிவுற்ற மென்மையான உலோக பக்கச்சுவர்களால் சிதறிய ஒளியானது, நிகழ்வுகளின் கோணத்தைப் பொருட்படுத்தாமல் தந்துகிக்குள் இருக்கும்.புதிய நேரியல் அல்லாத ஆப்டிகல் பெருக்கம் மற்றும் வேகமான மாதிரி மாறுதல் மற்றும் குளுக்கோஸ் கண்டறிதல் ஆகியவற்றின் காரணமாக வழக்கமான GOD-POD ரியாஜெண்டுகளைப் பயன்படுத்தி 5.12 nM க்கும் குறைவான செறிவுகளை அடைய முடியும்.இந்த கச்சிதமான மற்றும் மலிவான போட்டோமீட்டர், சுவடு பகுப்பாய்விற்காக உயிர் அறிவியல் மற்றும் சுற்றுச்சூழல் கண்காணிப்பில் பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படும்.
படம் 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, MWC-அடிப்படையிலான ஃபோட்டோமீட்டர் 7 செமீ நீளமுள்ள MWC (உள் விட்டம் 1.7 மிமீ, வெளிப்புற விட்டம் 3.18 மிமீ, EP கிளாஸ் எலக்ட்ரோபாலிஷ் செய்யப்பட்ட உள் மேற்பரப்பு, SUS316L ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல் கேபிலரி), ஒரு 505 nm அலைநீளம் LED (Thorlabs 6 டிகிரி ஆதாயம்), 6 டிகிரி ஃபோட்டோமீட்டர் மற்றும் M50 5 etector (Thorlabs PDB450C) மற்றும் ஆப்டிகல் கம்யூனிகேஷன் மற்றும் திரவ உள்ளே/வெளியே இரண்டு T-இணைப்பிகள்.MWC மற்றும் Peek குழாய்கள் (0.72 mm ID, 1.6 mm OD, Vici Valco Corp.) இறுக்கமாகச் செருகப்பட்டு ஒட்டப்பட்டிருக்கும் ஒரு வெளிப்படையான குவார்ட்ஸ் தகட்டை PMMA குழாயுடன் பிணைப்பதன் மூலம் டி-கனெக்டர் தயாரிக்கப்படுகிறது.பைக் இன்லெட் குழாயுடன் இணைக்கப்பட்ட மூன்று வழி வால்வு உள்வரும் மாதிரியை மாற்ற பயன்படுகிறது.ஃபோட்டோடெக்டர் பெற்ற ஆப்டிகல் பவர் P ஐ ஒரு பெருக்கப்பட்ட மின்னழுத்த சமிக்ஞை N×V ஆக மாற்ற முடியும் (1550 nm இல் V/P = 1.0 V/W, ஆதாய N 103-107 வரம்பில் கைமுறையாக சரிசெய்யப்படலாம்).சுருக்கத்திற்கு, வெளியீட்டு சமிக்ஞையாக N×Vக்கு பதிலாக V பயன்படுத்தப்படுகிறது.
ஒப்பிடுகையில், திரவ மாதிரிகளின் உறிஞ்சுதலை அளவிடுவதற்கு 1.0 செ.மீ குவெட் கலத்துடன் கூடிய வணிக நிறமாலை ஒளிமானி (அஜிலன்ட் டெக்னாலஜிஸ் கேரி 300 தொடர் R928 உயர் திறன் ஒளி பெருக்கி) பயன்படுத்தப்பட்டது.
MWC வெட்டின் உள் மேற்பரப்பு முறையே 0.1 nm மற்றும் 0.11 µm என்ற செங்குத்து மற்றும் பக்கவாட்டுத் தீர்மானம் கொண்ட ஆப்டிகல் மேற்பரப்பு விவரக்குறிப்பை (ZYGO நியூ வியூ 5022) பயன்படுத்தி ஆய்வு செய்யப்பட்டது.
அனைத்து இரசாயனங்களும் (பகுப்பாய்வு தரம், மேலும் சுத்திகரிப்பு இல்லை) சிச்சுவான் சுவாங்கே பயோடெக்னாலஜி கோ., லிமிடெட் நிறுவனத்திடமிருந்து வாங்கப்பட்டன. குளுக்கோஸ் சோதனைக் கருவிகளில் குளுக்கோஸ் ஆக்சிடேஸ் (GOD), பெராக்ஸிடேஸ் (POD), 4-அமினோஆன்டிபைரைன் மற்றும் பினோல் போன்றவை அடங்கும். குரோமோஜெனிக் தீர்வு வழக்கமான GOD முறையால் தயாரிக்கப்பட்டது-POD37.
அட்டவணை 2 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, பல்வேறு செறிவுகளில் குளுக்கோஸ் கரைசல்களின் வரம்பு DI H2O ஐப் பயன்படுத்தி ஒரு வரிசை நீர்த்த முறையைப் பயன்படுத்தி நீர்த்தப் பொருளாகத் தயாரிக்கப்பட்டது (விவரங்களுக்கு துணைப் பொருட்களைப் பார்க்கவும்).முறையே 3:1 என்ற நிலையான அளவு விகிதத்தில் குரோமோஜெனிக் கரைசலுடன் குளுக்கோஸ் கரைசல் அல்லது டீயோனைஸ் செய்யப்பட்ட தண்ணீரைக் கலந்து படிந்த அல்லது வெற்று மாதிரிகளைத் தயாரிக்கவும்.அனைத்து மாதிரிகளும் அளவீட்டுக்கு 10 நிமிடங்களுக்கு முன்பு 37 டிகிரி செல்சியஸ் ஒளியில் இருந்து பாதுகாக்கப்பட்டன.GOD-POD முறையில், படிந்த மாதிரிகள் அதிகபட்சமாக 505 nm இல் உறிஞ்சுதலுடன் சிவப்பு நிறமாக மாறும், மேலும் உறிஞ்சுதல் குளுக்கோஸ் செறிவுக்கு கிட்டத்தட்ட விகிதாசாரமாகும்.
அட்டவணை 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, DI H2O ஐ கரைப்பானாகப் பயன்படுத்தி தொடர் நீர்த்த முறை மூலம் தொடர்ச்சியான சிவப்பு மை தீர்வுகள் (ஆஸ்ட்ரிச் இங்க் கோ., லிமிடெட், தியான்ஜின், சீனா) தயாரிக்கப்பட்டன.
இந்தக் கட்டுரையை எப்படி மேற்கோள் காட்டுவது: பாய், எம். மற்றும் பலர்.உலோக அலை வழிகாட்டி நுண்குழாய்களை அடிப்படையாகக் கொண்ட கச்சிதமான ஃபோட்டோமீட்டர்: குளுக்கோஸின் நானோமொலார் செறிவுகளை தீர்மானிக்க.அறிவியல்.5, 10476. doi: 10.1038/srep10476 (2015).
டிரெஸ், பி. & ஃபிராங்க், எச். டிரெஸ், பி. & ஃபிராங்க், எச்.டிரெஸ், பி. மற்றும் ஃபிராங்க், எச். டிரெஸ், பி. & ஃபிராங்கே, எச். டிரெஸ், பி. & ஃபிராங்க், எச்.டிரெஸ், பி. மற்றும் ஃபிராங்க், எச்.அறிவியலுக்கு மாறுங்கள்.மீட்டர்.68, 2167–2171 (1997).
Li, QP, Zhang, J. -Z., Millero, FJ & Hansell, DA ஒரு நீண்ட பாதை திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகிக் கலத்துடன் கடல்நீரில் உள்ள அம்மோனியத்தின் சுவடுகளின் தொடர்ச்சியான வண்ணமயமான தீர்மானம். Li, QP, Zhang, J.-Z., Millero, FJ & Hansell, DA ஒரு நீண்ட பாதை திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகிக் கலத்துடன் கடல்நீரில் உள்ள அம்மோனியத்தின் தடயத்தின் தொடர்ச்சியான வண்ணமயமான தீர்மானம்.லீ, கேபி, ஜாங், ஜே.-இசட்., மில்லெரோ, எஃப்ஜே மற்றும் ஹன்செல், டிஏ திரவ அலை வழிகாட்டியுடன் கூடிய தந்துகிக் கலத்தைப் பயன்படுத்தி கடல்நீரில் உள்ள அம்மோனியத்தின் சுவடு அளவைத் தொடர்ந்து வண்ணமயமான தீர்மானம். Li, QP, Zhang, J. -Z., Millero, FJ & Hansell, DA 用长程液体波导毛细管连续比色る定海水中的痕量量量 லி, கியூபி, ஜாங், ஜே.-இசட்., மில்லெரோ, எஃப்ஜே & ஹான்செல், டிஏ.லீ, கேபி, ஜாங், ஜே.-இசட்., மில்லெரோ, எஃப்ஜே மற்றும் ஹேன்சல், டிஏ நீண்ட தூர திரவ அலை வழிகாட்டி நுண்குழாய்களைப் பயன்படுத்தி கடல் நீரில் அம்மோனியத்தின் சுவடு அளவுகளின் தொடர்ச்சியான வண்ணமயமான நிர்ணயம்.மார்ச் மாதம் வேதியியல்.96, 73–85 (2005).
Páscoa, RNMJ, Tóth, IV & Rangel, AOSS ஆய்வு Páscoa, RNMJ, Tóth, IV & Rangel, AOSS ஆய்வுPascoa, RNMJ, Toth, IV மற்றும் Rangel, AOSS ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபிக் கண்டறிதல் முறைகளின் உணர்திறனை மேம்படுத்துவதற்கான ஓட்ட பகுப்பாய்வு நுட்பங்களில் திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி கலத்தின் சமீபத்திய பயன்பாடுகளின் மதிப்பாய்வு. Páscoa, RNMJ, டோத், IV & ரேஞ்சல், AOSS检测方法的灵敏度。 Páscoa, rnmj, tóth, IV & Rangel, aoss 回顾 液体 毛细管 单元 在 基于 的 分析 技术 中 的 木 术 朣 的 木方法 的。。。 灵敏度 灵敏度 灵敏度灵敏度灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度度 灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度 灵敏度Pascoa, RNMJ, Toth, IV மற்றும் Rangel, AOSS ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபிக் கண்டறிதல் முறைகளின் உணர்திறனை அதிகரிக்க ஓட்டம் சார்ந்த பகுப்பாய்வு முறைகளில் திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி செல்களின் சமீபத்திய பயன்பாடுகளின் மதிப்பாய்வு.ஆசனவாய்.சிம்சட்டம் 739, 1-13 (2012).
வென், டி., காவோ, ஜே., ஜாங், ஜே., பியான், பி. & ஷென், ஜே வென், டி., காவோ, ஜே., ஜாங், ஜே., பியான், பி. & ஷென், ஜேவென் டி., காவ் ஜே., ஜாங் ஜே., பியான் பி. மற்றும் ஷென் ஜே. ஏஜி, ஏஜிஐ படங்களின் தடிமன் பற்றிய ஆய்வு Wen, T., Gao, J., Zhang, J., Bian, B. & Shen, J. 中空波导毛细管中Ag、AgI 薄膜厚度的研究。 வென், டி., காவோ, ஜே., ஜாங், ஜே., பியான், பி. & ஷென், ஜேவென் டி., காவ் ஜே., ஜாங் ஜே., பியான் பி. மற்றும் ஷென் ஜேஅகச்சிவப்பு இயற்பியல்.தொழில்நுட்பம் 42, 501–508 (2001).
Gimbert, LJ, Haygarth, PM & Worsfold, PJ ஒரு நீண்ட பாதை நீள திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி செல் மற்றும் திட-நிலை ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதல் மூலம் ஓட்ட ஊசி மூலம் இயற்கை நீரில் பாஸ்பேட்டின் நானோமொலார் செறிவுகளை தீர்மானித்தல். Gimbert, LJ, Haygarth, PM & Worsfold, PJ ஒரு நீண்ட பாதை நீள திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி செல் மற்றும் திட-நிலை ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதல் மூலம் ஓட்ட ஊசி மூலம் இயற்கை நீரில் பாஸ்பேட்டின் நானோமொலார் செறிவுகளை தீர்மானித்தல்.Gimbert, LJ, Haygarth, PM மற்றும் Worsfold, PJ ஒரு திரவ அலை வழிகாட்டி கேபிலரி செல் மற்றும் திட-நிலை நிறமாலை ஒளிக்கற்றை கண்டறிதல் மூலம் ஓட்ட ஊசி மூலம் இயற்கை நீரில் நானோமொலார் பாஸ்பேட் செறிவுகளை தீர்மானித்தல். Gimbert, LJ, Haygarth, PM & Worsfold, PJ纳摩尔浓度的磷酸盐。 Gimbert, LJ, Haygarth, PM & Worsfold, PJ ஒரு திரவ சிரிஞ்ச் மற்றும் நீண்ட தூர திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி குழாயைப் பயன்படுத்தி இயற்கை நீரில் பாஸ்பேட் செறிவை தீர்மானித்தல்.Gimbert, LJ, Haygarth, PM மற்றும் Worsfold, PJ நீண்ட ஒளியியல் பாதை மற்றும் திட-நிலை ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதலுடன் ஊசி ஓட்டம் மற்றும் தந்துகி அலை வழிகாட்டியைப் பயன்படுத்தி இயற்கை நீரில் நானோமொலார் பாஸ்பேட்டை தீர்மானித்தல்.டரன்டா 71, 1624–1628 (2007).
Belz, M., Dress, P., Sukhitskiy, A. & Liu, S. Linearity மற்றும் திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி செல்களின் பயனுள்ள ஆப்டிகல் பாதை நீளம். Belz, M., Dress, P., Sukhitskiy, A. & Liu, S. Linearity மற்றும் திரவ அலை வழிகாட்டி தந்துகி செல்களின் பயனுள்ள ஆப்டிகல் பாதை நீளம்.பெல்ஸ் எம்., டிரெஸ் பி., சுஹிட்ஸ்கி ஏ. மற்றும் லியு எஸ். லீனியரிட்டி மற்றும் தந்துகி செல்களில் திரவ அலை வழிகாட்டிகளில் பயனுள்ள ஆப்டிகல் பாதை நீளம். Belz, M., Dress, P., Sukhitskiy, A. & Liu, S. 液体波导毛细管细胞的线性和有效光程长度。 Belz, M., Dress, P., Sukhitskiy, A. & Liu, S. திரவ நீரின் நேரியல் மற்றும் பயனுள்ள நீளம்.பெல்ஸ் எம்., டிரஸ் பி., சுஹிட்ஸ்கி ஏ. மற்றும் லியு எஸ். லீனியர் மற்றும் கேபிலரி செல் திரவ அலையில் பயனுள்ள ஆப்டிகல் பாதை நீளம்.SPIE 3856, 271–281 (1999).
டனலின் முடிவில் டல்லாஸ், டி டனலின் முடிவில் டல்லாஸ், டிடல்லாஸ், டி. மற்றும் தாஸ்குப்தா, சுரங்கப்பாதையின் முடிவில் பிகே லைட்: திரவ மைய அலை வழிகாட்டிகளின் சமீபத்திய பகுப்பாய்வு பயன்பாடுகள். டல்லாஸ், டி. & தாஸ்குப்தா, சுரங்கப்பாதையின் முடிவில் பி.கே. லைட் டல்லாஸ், டி. & தாஸ்குப்தா, சுரங்கப்பாதையின் முடிவில் பி.கே. லைட்டல்லாஸ், டி. மற்றும் தாஸ்குப்தா, சுரங்கப்பாதையின் முடிவில் பிகே லைட்: திரவ மைய அலை வழிகாட்டிகளின் சமீபத்திய பகுப்பாய்வு பயன்பாடு.TrAC, போக்கு பகுப்பாய்வு.இரசாயனம்.23, 385–392 (2004).
எல்லிஸ், PS, ஜென்டில், BS, கிரேஸ், MR & McKelvie, ID ஒரு பல்துறை மொத்த உள் பிரதிபலிப்பு ஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதல் செல். எல்லிஸ், PS, ஜென்டில், BS, கிரேஸ், MR & McKelvie, ID ஒரு பல்துறை மொத்த உள் பிரதிபலிப்பு ஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதல் செல்.எல்லிஸ், PS, ஜென்டில், BS, கிரேஸ், MR மற்றும் McKelvey, ID யுனிவர்சல் ஃபோட்டோமெட்ரிக் மொத்த உள் பிரதிபலிப்பு செல். எல்லிஸ், PS, ஜென்டில், BS, கிரேஸ், MR & McKelvie, ID 用于流量分析的多功能全内反射光度检测池。 எல்லிஸ், PS, ஜென்டில், BS, கிரேஸ், MR & McKelvie, IDஎல்லிஸ், பிஎஸ், ஜென்டில், பிஎஸ், கிரேஸ், எம்ஆர் மற்றும் மெக்கெல்வி, ஐடி யுனிவர்சல் டிஐஆர் ஃபோட்டோமெட்ரிக் செல் பகுப்பாய்விற்கு.டரன்டா 79, 830–835 (2009).
Ellis, PS, Lyddy-Meaney, AJ, Worsfold, PJ & McKelvie, ID மல்டி-ரிஃப்ளெக்ஷன் ஃபோட்டோமெட்ரிக் ஃப்ளோ செல், கழிமுக நீரின் ஓட்ட ஊசி பகுப்பாய்வில் பயன்படுத்த. Ellis, PS, Lyddy-Meaney, AJ, Worsfold, PJ & McKelvie, ID மல்டி-ரிஃப்ளெக்ஷன் ஃபோட்டோமெட்ரிக் ஃப்ளோ செல், கழிமுக நீரின் ஓட்ட ஊசி பகுப்பாய்வில் பயன்படுத்த.Ellis, PS, Liddy-Minnie, AJ, Worsfold, PJ மற்றும் McKelvey, ID ஒரு மல்டி-ரிஃப்ளெக்டன்ஸ் ஃபோட்டோமெட்ரிக் ஃப்ளோ செல், இது கழிமுக நீரின் ஓட்ட பகுப்பாய்வில் பயன்படுத்தப்படுகிறது. Ellis, PS, Lyddy-Meaney, AJ, Worsfold, PJ & McKelvie, ID எல்லிஸ், பிஎஸ், லிடி-மீனி, ஏஜே, வோர்ஸ்ஃபோல்ட், பிஜே & மெக்கெல்வி, ஐடி.Ellis, PS, Liddy-Minnie, AJ, Worsfold, PJ மற்றும் McKelvey, ID ஒரு மல்டி-ரிஃப்ளெக்டன்ஸ் ஃபோட்டோமெட்ரிக் ஃப்ளோ செல், ஃபுளோ இன்ஜெக்ஷன் அனாலிசிஸ் இன் எஸ்டுவாரைன் வாட்டர்ஸ்.ஆசனவாய் சிம்.ஆக்டா 499, 81-89 (2003).
பான், ஜே.-இசட்., யாவ், பி பான், ஜே.-இசட்., யாவ், பிPan, J.-Z., Yao, B. மற்றும் Fang, K. நானோலிட்டர் அளவிலான மாதிரிகளுக்கான திரவ-கோர் அலைநீள உறிஞ்சுதல் கண்டறிதலை அடிப்படையாகக் கொண்ட ஒரு கையால் பிடிக்கப்பட்ட ஃபோட்டோமீட்டர். Pan, J. -Z., Yao, B. & Fang, Q. 基于液芯波导吸收检测的纳升级样品手持光度计。 Pan, J.-Z., Yao, B. & Fang, Q. 液芯波波水水水油法的纳法手手手持光度计。 அடிப்படையில்பான், ஜே.-இசட்., யாவ், பி. மற்றும் ஃபாங், கே. ஒரு திரவ மைய அலையில் உறிஞ்சப்படுவதைக் கண்டறிவதன் அடிப்படையில் நானோ அளவிலான மாதிரியுடன் கையால் பிடிக்கப்பட்ட ஃபோட்டோமீட்டர்.ஆசனவாய் வேதியியல்.82, 3394–3398 (2010).
ஜாங், ஜே.-இசட்.ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரிக் கண்டறிதலுக்கு நீண்ட ஒளியியல் பாதையுடன் கூடிய தந்துகி ஓட்டக் கலத்தைப் பயன்படுத்துவதன் மூலம் ஊசி ஓட்ட பகுப்பாய்வின் உணர்திறனை அதிகரிக்கவும்.ஆசனவாய்.அறிவியல்.22, 57–60 (2006).
D'Sa, EJ & Steward, RG லிக்விட் கேபிலரி அலை வழிகாட்டி பயன்பாடு உறிஞ்சும் நிறமாலையில் (பைர்ன் மற்றும் கால்டன்பேச்சரின் கருத்துக்கு பதில்). D'Sa, EJ & Steward, RG லிக்விட் கேபிலரி அலை வழிகாட்டி பயன்பாடு உறிஞ்சும் நிறமாலையில் (பைர்ன் மற்றும் கால்டன்பேச்சரின் கருத்துக்கு பதில்).D'Sa, EJ மற்றும் Steward, RG அப்ளிகேஷன்ஸ் ஆஃப் லிக்விட் கேபிலரி வேவ்கைட் இன் அப்சார்ப்ஷன் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி (பைர்ன் மற்றும் கால்டன்பேச்சரின் கருத்துகளுக்கு பதில்). D'Sa, EJ & Steward, RG 液体毛细管波导在吸收光谱中的应用（回复Byrne 和Kaltenbacher D'Sa, EJ & Steward, RG திரவ 毛绿波波对在 உறிஞ்சும் நிறமாலையின் பயன்பாடுD'Sa, EJ மற்றும் Steward, RG லிக்விட் கேபிலரி அலை வழிகாட்டிகள் உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபிக்கான (பைர்ன் மற்றும் கால்டன்பேச்சரின் கருத்துகளுக்கு பதிலளிக்கும் வகையில்).லிமோனோல்.கடல்சார் ஆய்வாளர்.46, 742–745 (2001).
கிஜ்வானியா, எஸ்கே & குப்தா, பிடி ஃபைபர் ஆப்டிக் எவன்சென்ட் ஃபீல்ட் அப்சார்ப்ஷன் சென்சார்: ஃபைபர் அளவுருக்கள் மற்றும் ஆய்வின் வடிவவியலின் விளைவு. கிஜ்வானியா, எஸ்கே & குப்தா, பிடி ஃபைபர் ஆப்டிக் எவன்சென்ட் ஃபீல்ட் அப்சார்ப்ஷன் சென்சார்: ஃபைபர் அளவுருக்கள் மற்றும் ஆய்வின் வடிவவியலின் விளைவு.ஹிஜ்வானியா, SK மற்றும் குப்தா, BD ஃபைபர் ஆப்டிக் எவனசென்ட் ஃபீல்ட் அப்சார்ப்ஷன் சென்சார்: ஃபைபர் அளவுருக்கள் மற்றும் ஆய்வு வடிவவியலின் தாக்கம். கிஜ்வானியா, SK & குப்தா, BD 光纤倏逝场吸收传感器：光纤参数和探头几何形状的影响。 கிஜ்வானியா, எஸ்கே & குப்தா, பி.டிஹிஜ்வானியா, எஸ்கே மற்றும் குப்தா, பிடி எவனசென்ட் ஃபீல்ட் அப்சார்ப்ஷன் ஃபைபர் ஆப்டிக் சென்சார்கள்: ஃபைபர் அளவுருக்கள் மற்றும் ஆய்வு வடிவவியலின் தாக்கம்.ஒளியியல் மற்றும் குவாண்டம் எலக்ட்ரானிக்ஸ் 31, 625–636 (1999).
Biedrzycki, S., Buric, MP, Falk, J. & Woodruff, SD கோண வெளியீடு, உலோக வரிசை, அலை வழிகாட்டி ராமன் சென்சார்கள். Biedrzycki, S., Buric, MP, Falk, J. & Woodruff, SD கோண வெளியீடு, உலோக வரிசை, அலை வழிகாட்டி ராமன் சென்சார்கள்.பெட்ஜிட்ஸ்கி, எஸ்., புரிச், எம்.பி., பால்க், ஜே. மற்றும் வுட்ரஃப், மெட்டல் லைனிங் கொண்ட ஹாலோ வேவ்கைட் ராமன் சென்சார்களின் கோண வெளியீடு. Biedrzycki, S., Buric, MP, Falk, J. & Woodruff, SD 空心金属内衬波导拉曼传感器的角输出。 Biedrzycki, S., Buric, MP, Falk, J. & Woodruff, SD.பெட்ஜிட்ஸ்கி, எஸ்., புரிச், எம்.பி., பால்க், ஜே. மற்றும் உட்ரஃப், வெற்று உலோக அலை வழிகாட்டியுடன் கூடிய ராமன் சென்சாரின் SD கோண வெளியீடு.51, 2023-2025 (2012) ஐ தேர்வு செய்வதற்கான விண்ணப்பம்.
ஹாரிங்டன், ஜேஏ ஐஆர் டிரான்ஸ்மிஷனுக்கான வெற்று அலை வழிகாட்டிகளின் கண்ணோட்டம்.ஃபைபர் ஒருங்கிணைப்பு.தேர்ந்தெடுக்க.19, 211–227 (2000).